蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡具有出色的易用性設(shè)計(jì)、更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度，使其能快速、靈活、可靠地對(duì)樣品進(jìn)行表面成像和分析，充當(dāng)您的得力助手

更高的速度與靈敏度，更好的成像和分析
1.蔡司GeminiSEM 450掃描電鏡更快的響應(yīng)和更高的表面靈敏度使其能快速、靈活、可靠地對(duì)樣品進(jìn)行表面成像和分析，簡(jiǎn)便、
2.快速地進(jìn)行EDS能譜和EBSD等分析，同時(shí)保持出色的空間分辨率，充當(dāng)您的得力助手。
3.在EDS能譜和EBSD分析模式下仍保持高分辨率的成像，在低電壓條件下工作時(shí)更為優(yōu)異；
4.可快速地對(duì)樣品進(jìn)行大范圍及高質(zhì)量成像；
5.經(jīng)優(yōu)化的電子光學(xué)鏡筒，減少了工作過(guò)程中進(jìn)行重新校準(zhǔn)的復(fù)雜流程，節(jié)省成像時(shí)間，提高工作效率；
6.無(wú)論是不導(dǎo)電樣品、磁性樣品或是其他類型的樣品，無(wú)論是高真空或是可變壓力模式，均可實(shí)現(xiàn)快速和高質(zhì)量的成像和分析；