德國BYK微型光澤儀;微型三角度光澤儀，單角度光澤度儀
新型號：4560/4561/4562/4563/4564/4565/4566/4567/4568/4569
舊型號：4440/4442/4444/4446/4448/4450/4452/4454/4456
光澤度儀一般隨機標配都帶有校準標準版，上面一般標有角度和標準值，例如：20° 88GU；60° 92GU；85° 103GU等。測量開機一般在標準板上校準測量，感覺可信后直接測量您的工件！測量前根據(jù)您的工件角度選擇如下： 20度：高光澤表面，如汽車面漆，拋光金屬和光亮塑膠等 60度：所有表面都廣泛適用的光澤測量角度， 85度：啞光表面，如汽車內(nèi)飾，皮革、裝飾塑料、建筑涂料和木器漆、油漆涂料等。其中的85°角度可測量低光澤表面（高漫反射）或啞光表面。
高-中-低光澤：您的應(yīng)用屬于哪一種? 三角度光澤儀集 20°, 60°, 85° 三種角度于一體 - 如同單角度儀器一樣便攜。三個角度在一臺儀器上 使您能按國際標準迅速覺察到質(zhì)量的變化。 為了清楚地得到從平光到高光的整個范圍內(nèi)的光澤度差值， 國際標準規(guī)定了三個角度。每個角度都在對應(yīng)的光澤范圍內(nèi) 進行優(yōu)化測量。 所有被選擇的角度在同一個點上測量，并立即顯示測量結(jié)果 - 包括：統(tǒng)計、差值、合格/不合格結(jié)果。 以下例子在20°角下兩個樣品的讀數(shù)更能顯示出兩個樣品間 光澤的差異： 一個好的涂裝是使用盡可能少的涂料來達到客戶要求的質(zhì)量 規(guī)格。光澤和厚度是評估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。 微型三角度光澤儀μ可在幾秒內(nèi)在同一個測量點上同時測量這 兩個參數(shù)，不僅節(jié)省時間而且在現(xiàn)場使用也十分理想 - 僅需使 用1臺儀器。 ■ 同時顯示20°, 60°, 85° – 用于高、中、低光澤涂料 ■ 磁性/非磁性兩用型探頭 – 在鋼或鋁基材上測量涂層厚度 光澤 厚度 ISO 2813, , 2360, 2808 ASTM D523 B499,D1400 DIN 67530 啞光表面處理不僅是新的設(shè)計趨勢，而且對于要求表面無反 射或低反射這類應(yīng)用而言也是至關(guān)重要的 - 例如汽車內(nèi)飾件。 通常有各種各樣的材料，從皮革到塑料，同時使用時需要和 諧一致。另外，從大顆粒到精細的條紋等各種不同的表面結(jié) 構(gòu)通常呈現(xiàn)出非常低的光澤。為了確保在不同部件上一致的 視覺感受，必須規(guī)定極嚴格的允差范圍。 只有極其精準的測試儀器才能客觀地控制生產(chǎn)。新型光澤儀 S系列產(chǎn)品提升了60°角度下在低光澤（0-20GU）范圍內(nèi)的測 量精度。通過在光澤儀生產(chǎn)過程中具有磚利的校準程序，保 證了優(yōu)良的精度。 優(yōu)良的儀器間重復性 測量范圍 0 - 20 GU 20 - 100 GU 100 - 2000 GU 重復性 ± 0.1 GU ± 0.2 GU ± 0.2 % 重現(xiàn)性 ± 0.2 GU ± 0.5 GU ± 0.5 % 當今，很多產(chǎn)品不僅是由不同的部件構(gòu)成，同時要求這些部 件具有類似的表面外觀。造型優(yōu)美的設(shè)計已成為產(chǎn)品能否成 功的重要因素，諸如手機、電腦或者家用電器。需要將小部 件整合到大部件中并融為一體，例如框架、按鍵以及裝飾性 的零部件。這些產(chǎn)品的大小和設(shè)計使它們很難用傳統(tǒng)的光澤 儀進行評估。 微型光澤儀XS為小口徑60°光澤儀，測量口徑2 x 4 mm，是測 量小部件光澤的理想方案，確保使之與大部件相統(tǒng)一。 額外新增的版本是增強型微型60°光澤儀 XS-S, 其技術(shù)性能適 用于測量非常低光澤表面的產(chǎn)品。 陶瓷材料，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，紙張和硬紙板不僅可用20°, 60°, 85°常規(guī)角度進行測量，也可按照行業(yè)標準選擇45° 或 75°。 對于中低光澤產(chǎn)品，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，不論透明還是不 透明材質(zhì)，通常都用45°角來測量。對于透光的薄膜，請用型 號為5015的黑色耐擦洗實驗板作為啞光黑色背景（174頁）墊 于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測量會發(fā)生錯誤。 標準的測量方法要求每個樣品至少測量三個點，以獲取光澤 微型光澤儀45°：特別應(yīng)用在陶瓷、塑料和薄膜的光澤測量 均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計測量模式，可顯示平均值和差 值范圍或者顯示測量樣品的均質(zhì)性的標準偏差值。 陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測量失光率可以 對比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。 為了評估光澤的變化有必要多次測量整個樣品表面并取平均 值，確保得到有代表性的結(jié)果。 標準 ASTM C346, D2457 JIS Z8741 角度 應(yīng)用 測量范圍 45° 陶瓷、塑料、薄膜 0 - 180 GU 特別是有涂層的紙張，還有很多無涂層的紙張都需要進行光 澤控制。75°光澤儀適用于大多數(shù)墨膜的紙張和硬板紙。顏 色的差異對測量光澤幾乎沒有影響。例如，一個白色產(chǎn)品表 面所測得的光澤只會比相同的黑色表面僅高出不到1個光澤 單位。 光澤非常高的紙張（漆面的，涂漆的，或者上過蠟的）需要 在20°角下測量光澤。 TAPPI（美國紙漿與造紙工業(yè)技術(shù)協(xié)會）標準中定義批量質(zhì)檢 要求檢查至少十個樣品有無褶皺或其他瑕疵。smart-lab 是理 想的文件處理和數(shù)據(jù)溝通的光澤測量軟件。項目管理功能記 錄材料隨時間推移的質(zhì)量變化過程，并通過轉(zhuǎn)化為PDF或者 Excel格式發(fā)給相關(guān)人員。 另一個使用75°特殊角度進行光澤測量的典型材料是聚乙烯板 材，其大部分由堅硬的PVC制成，用來做建筑物的復合外墻。 為了評估大面積樣品的均質(zhì)性，可使用“連續(xù)測量模式”，預設(shè) 測量間隔并將微型光澤儀在樣品上滑行測量，儀器上將顯示 連續(xù)測量的光澤度值。 微型光澤儀75°：特別應(yīng)用在紙張、紙板和表面有結(jié)構(gòu)的塑 料，如聚乙烯板材。 選擇模式... 測量... ASTM D2457, D3679 ASTM Z8741 TAPPI T480 角度 應(yīng)用 測量范圍 75° 紙張、聚乙烯 0 - 140 GU
微型三角度光澤儀
在正確的角度下 -觀察產(chǎn)品的變化
微型三角度光澤儀 μ
光澤和厚度測量集于一身
標準
新型光澤儀S系列
技術(shù)指標
微型光澤儀XS
小部件用小口徑光澤儀
特殊應(yīng)用的光澤測量
特殊的材料要求特殊的測量角度：
微型光澤儀 45°
技術(shù)指標
特殊應(yīng)用的光澤測量
微型光澤儀 75° 
標準
技術(shù)指標
| 訂購信息 | 技術(shù)指標 | |||||
| 新型號 | 舊型號 | 名稱 | 角度 | 應(yīng)用 | 測量面積 | |
| 4560 | 4440 | 微型光澤儀 20° | 20° | 高光澤 | 10 x 10 mm (0.4 x 0.4 in) | |
| 4561 | 4442 | 微型光澤儀 60° | 60° | 中光澤 | 9 x 15 mm (0.35 x 0.6 in) | |
| 4562 | 4444 | 微型光澤儀 85° | 85° | 低光澤 | 5 x 38 mm (0.2 x 1.5 in) | |
| 4563 | 4446 | 微型三角度光澤儀 | 20°, 60°, 85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
| 4564 | 4448 | 微型三角度光澤儀μ | 20°, 60°, 85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
| 4565 | 4450 | 微型光澤儀 60°S | 60° | 中光澤 | 9 x 15 mm (0.35 x 0.6 in) | |
| 4566 | 4452 | 微型三角度光澤儀S | 20°, 60°, 85° | 各種光澤 | 參見各角度 | |
| 4567 | 4454 | 微型光澤儀 45° | 45° | 陶瓷、塑料、薄膜 | 9 x 13 mm (0.35 x 0.5 in) | |
| 4568 | 4456 | 微型光澤儀 75° | 75° | 紙張、聚乙烯 | 7 x 24 mm (0.3 x 0.95 in) | |
| 4569 | ---- | 微型光澤儀 60°XS | 60° | 中光澤 | 2 x 4 mm (0.08 x 0.16 in) | |
| 4570 | ---- | 微型光澤儀 60° XS-S | 60° | 中光澤 | 2 x 4 mm (0.08 x 0.16 in) | |
| 基本配置： 主機；帶校準板的底座；可追溯的證書； USB線纜，電池；操作手冊；電池；攜帶箱 可供下載的軟件: smart-lab Gloss 或 smart-process Gloss 含2個許可證 注意：軟件下載后所有的軟件包可以免費試用30天。之后，用戶 需決定并注冊其中一個軟件包。 延長質(zhì)保服務(wù)：請參見技術(shù)服務(wù)章節(jié) 系統(tǒng)要求： 操作系統(tǒng)： Windows® SP1 或 8.1 8.1Microsoft® . NET Framework 硬件：Core 2 Duo, 2.2 GHz, i7 或相當 內(nèi)存：4 GB RAM, 8 GB 建議 硬盤：少300MB 顯示器：1280 x 1024 或更高 接口：USB端口 | 測量范圍1 | 0 - 100 GU | 100 - 2000 GU | |||
| 重復性2 | ± 0.2 GU | ± 0.2 % | ||||
| 重現(xiàn)性2 | ± 0.5 GU | ± 0.5 % | ||||
| 光譜敏感度 | 用于CIE-C光源的觀察器，符合CIE1931標準 | |||||
| 測量時間 | 0.5 秒 / 角度 | |||||
| 厚度 |
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| 底材 | Fe: 磁性 NFe: 非磁性 | |||||
| 測量范圍 | 0 - 500 μm (0 - 20 mils) | |||||
| 精度 | ± (1.5 μm +2% 測量值) | |||||
| 存儲 | 999個讀數(shù)帶日期和時間 | |||||
| 接口 | USB | |||||
| 電源 | 1節(jié)1.5V AA堿性電池 測量4000個讀數(shù)或者通過USB端口 | |||||
| 尺寸 | 155 x 73 x 48 mm (6.1 x 2.9 x 1.9 in) | |||||
| 重量 | 0.4 kg (0.9 lbs) | |||||
| 操作溫度 | 15 - 40 °C (60 - 104 °F) | |||||
| 相對濕度 | 高達85%，無凝露 | |||||
1 45°和75°度光澤儀見第前頁
2S型光澤儀見第前頁
