信心滿滿,昭然可見
OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強(qiáng)大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和高級成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測。
改進(jìn)的相控陣技術(shù)
- 速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍(脈沖重復(fù)頻率)
- 單獨(dú)的衍射時差(TOFD)菜單,加快了工作流程
- 改進(jìn)的快速相控陣校準(zhǔn),使用戶享有更輕松的操作體驗(yàn)
- 800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要
- 機(jī)載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創(chuàng)建設(shè)置的過程
迅速地投入到檢測工作中
機(jī)載掃查計(jì)劃、改進(jìn)的快速校準(zhǔn)和簡化的用戶界面,有助于省去一些不必要的步驟,從而可使用戶在很短的時間內(nèi)完成檢測的設(shè)置工作。
如果您是OmniScan MX2儀器的用戶,您可以從現(xiàn)有的儀器迅速地過渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測或全聚焦方式(TFM),您可以通過OmniScan X3探傷儀輕松地學(xué)習(xí)這些知識。
性能可靠,令人信賴
- 符合IP65評級標(biāo)準(zhǔn),防雨防塵機(jī)載GPS,
- 可提供采集數(shù)據(jù)的位置
- 可通過無線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng),以下載的軟件
- 得益于25 GB的文件容量,儀器可以無需停歇,持續(xù)掃查。
檢測團(tuán)隊(duì)中的主力成員
OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測工作。這些功能可以在以下應(yīng)用中大顯身手:焊縫檢測、管線和管道的檢測、耐腐蝕合金的檢測、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測、初期裂紋的探測、復(fù)合材料的檢測和缺陷成像。
- 與現(xiàn)有的探頭和掃查器相兼容
- 32:128PR型號,提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
- 還提供16:64PR和16:128PR型號
- 最多8個聲束組,1024個聚焦法則
- 與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容,方便了用戶轉(zhuǎn)換到新儀器的操作
- 64 GB的內(nèi)置存儲容量,還可以借助外置USB驅(qū)動盤擴(kuò)展存儲容量
新一代OmniScan帶給您更美好的體驗(yàn)
OmniScan X3儀器的軟件性能強(qiáng)大,其簡潔、現(xiàn)代的菜單結(jié)構(gòu)減少了按鍵的次數(shù),改進(jìn)了從開始設(shè)置到最后制作報(bào)告的整個檢測過程,因此無論新老用戶都會得心應(yīng)手地使用這款儀器。
實(shí)時全聚焦方式(TFM)包絡(luò)處理
儀器的包絡(luò)處理功能,可以為缺陷生成高清全聚焦方式(TFM)圖像。圖中的缺陷在背景噪聲的襯托下,顯得更為清晰鮮明。
屏幕上最多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量
在同一個檢測中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測人員更有希望探測到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來自每種模式的響應(yīng)和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進(jìn)行分析,從而可以確認(rèn)缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。
提前確認(rèn)覆蓋區(qū)域
聲學(xué)影響圖(AIM)工具可以基于用戶的全聚焦方式(TFM)模式、探頭、設(shè)置和模擬反射體,即刻提供靈敏度的可視化模型。聲學(xué)影響圖(AIM)工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過程中的猜測因素,因?yàn)槠聊簧蠒@示某個聲波組(TFM模式)的效果圖,使用戶看到靈敏度消失的位置,并對掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。
屏幕上顯示有全聚焦方式(TFM)區(qū)域的相控陣超聲檢測探傷儀
相控陣超聲探傷儀提供機(jī)載掃查計(jì)劃創(chuàng)建功能
迅速地投入到檢測工作中
機(jī)載掃查計(jì)劃工具有助于用戶在開始檢測之前觀察到檢測圖像。
- 在一個簡單的工作流程中創(chuàng)建包含全聚焦方式(TFM)區(qū)域在內(nèi)的整個掃查計(jì)劃
- 同時配置多個探頭和聲波組
- 改進(jìn)的校準(zhǔn)功能和設(shè)置驗(yàn)證工具
看似熟悉、實(shí)有提升的OmniScan操作體驗(yàn)
OmniScan X3探傷儀雖然保留了OmniScan儀器熟為人知的界面,但卻減少了設(shè)置和分析所需的步驟。因此擁有OmniScan X2的用戶可以快速方便地過渡到OmniScan X3的使用,而新的用戶則可以借助OmniScan X3輕松地學(xué)習(xí)檢測知識。
改進(jìn)的快速校準(zhǔn)
OmniScan X3校準(zhǔn)菜單可以高速跟蹤信號。檢測人員可以在幾分鐘之內(nèi)簡單輕松地完成多組校準(zhǔn)。
檢測人員正在使用手提電腦上的相控陣檢測軟件
利用PC機(jī)的強(qiáng)大功能
OmniPC軟件為用戶提供一套高級工具,如:并排顯示視圖的功能,這種視圖可使用戶在屏幕上比較兩個文件,從而在分析數(shù)據(jù)時更加充分地利用PC機(jī)的性能。
- 將數(shù)據(jù)方便地導(dǎo)出到USB存儲盤
- 觀察焊縫左右兩側(cè)的圖像
- 在同一個屏幕上將當(dāng)前和以前捕獲的檢測數(shù)據(jù)放在一起進(jìn)行比較
OmniScan X3的技術(shù)規(guī)格
? 數(shù)據(jù)技術(shù)規(guī)格 ? 聲學(xué)技術(shù)規(guī)格 ? TFM/FMC ? 操作環(huán)境類型
多組、多模式超聲探傷儀 尺寸(寬 × 高 × 厚) 335 mm × 221 mm × 151 mm 重量 5.7 kg(含1塊電池) 硬盤驅(qū)動器容量 64 GB的內(nèi)置SSD,還可以借助外置USB驅(qū)動盤擴(kuò)展存儲容量 存儲設(shè)備 SDHC卡和SDXC卡,或者大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)USB存儲設(shè)備 機(jī)載文件容量 25 GB GPS 有(除非針對某些地區(qū)另有規(guī)定) 報(bào)警 3個 無線連接 有(USB適配器作為配件單獨(dú)出售) PA接口 1個接口 UT接口 32:128PR和16:128PR4型號有4個接口(2個P/R通道);16:64PR型號有相同的接口,但是僅有1個激活的UT通道(P1/R1) 認(rèn)證 ISO 18563-1:2015
EN12668-1:2010顯示 類型 TFT LCD(薄膜晶體管液晶顯示屏),電阻式觸摸屏 尺寸 269毫米(10.6英寸) 分辨率 1280 × 768像素 顏色數(shù)量 1千6百萬 可視角度 水平:?85° ~ 85°
豎直:?85° ~ 85°輸入/輸出(I/O)端口 USB 2.0 2個端口(1個位于電池的后面) USB 3.0 1個端口 視頻輸出 視頻輸出(HDMI) 存儲卡 SDHC端口 通信 以太網(wǎng) 輸入/輸出(I/O)線 編碼器 雙軸編碼器線(正交或時鐘/方向),可以連接第三個編碼器 數(shù)字輸入 6個數(shù)字輸入,TTL 數(shù)字輸出 5個數(shù)字輸出,TTL 采集開關(guān) 將1個數(shù)字輸入配置為采集開關(guān) 電源輸出線 5 V額定值,1 A(短路保護(hù)),在1 A時為12 V輸出 外接DC電源 直流輸入(DC-IN)電壓 15 VDC ~ 18 VDC(最小為50 W) 接口 圓形,2.5毫米引腳直徑,中心正極 電池 類型 鋰離子電池 容量 93 Wh 電池?cái)?shù)量 2個 運(yùn)行時間 2個電池運(yùn)行5個小時(具有熱插拔性能) PA/UT配置 位深度 16比特 脈沖重復(fù)頻率(PRF) 12 kHz 頻率 有效數(shù)字化頻率 100 MHz 顯示 刷新率 A掃描:60 Hz; S掃描:20 Hz ~ 30 Hz 包絡(luò)(回波動態(tài)模式) 有:體積校正的S掃描(30 Hz) A掃描高度 達(dá)800 % 同步 根據(jù)內(nèi)部時鐘 1 Hz ~ 10 kHz 外部步速 有 根據(jù)編碼器 雙軸:1步 ~ 65536步 數(shù)據(jù)技術(shù)規(guī)格
處理 A掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)的數(shù)量 達(dá)16384 實(shí)時平均 PA:2、4、8、16
UT:2、4、8、16、32、64檢波 射頻、全波、正半波、負(fù)半波 濾波 PA通道:3個低通、6個帶通和4個高通濾波器
UT通道:8個低通、6個帶通和4個高通濾波器(當(dāng)配置為TOFD時,為3個低通濾波器)視頻濾波 平滑(根據(jù)探頭頻率范圍調(diào)節(jié)) 可編程TCG 點(diǎn)的數(shù)量 32個,每個聚焦法則有一條TCG(時間校正增益)曲線 范圍 相控陣(標(biāo)準(zhǔn)):40 dB,步距為0.1 dB
相控陣(擴(kuò)展):65 dB,步距為0.1 dB
常規(guī)超聲:100 dB,步距為0.1 dB斜率 相控陣(標(biāo)準(zhǔn)):40 dB/10 ns
相控陣(擴(kuò)展):0.1 dB/10 ns
常規(guī)超聲:40 dB/10 ns聲學(xué)技術(shù)規(guī)格
脈沖發(fā)生器 PA通道 UT通道 電壓 40 V、80 V、115 V 85 V、155 V、295 V 脈沖寬度 30 ns ~ 500 ns范圍內(nèi)可調(diào),分辨率為2.5 ns 30 ns ~ 1,000 ns范圍內(nèi)可調(diào),分辨率為2.5 ns 下降時間 < 10 ns < 10 ns 脈沖形狀 負(fù)方波脈沖 負(fù)方波脈沖 輸出阻抗 脈沖回波模式:28 ?
一發(fā)一收模式:24 ?< 30 Ω 接收器 PA通道 UT通道 增益范圍 0 dB ~ 80 dB,輸入信號; 550 mVp-p(滿屏高) 0 dB ~ 120 dB,輸入信號; 34.5 Vp-p(滿屏高) 輸入阻抗 脈沖回波模式,9 MHz時:57 Ω ±10 %
一發(fā)一收模式,9 MHz時:100 Ω ±10 %脈沖回波模式:50 Ω
脈沖發(fā)送接收模式:50 ?系統(tǒng)帶寬 0.5 MHz ~ 18 MHz 0.25 MHz ~ 28 MHz 聲束形成 PA通道 UT通道 掃查類型 單一、線性、扇形、混合和全聚焦方式(TFM) – 孔徑 OMNIX3-PATFM1664PR = 16晶片
OMNIX3-PATFM16128PR = 16晶片
OMNIX3-PATFM32128PR = 32晶片– 接收晶片數(shù)量 OMNIX3-PATFM1664PR = 64接收晶片
OMNIX3-PATFM16128PR = 128接收晶片
OMNIX3-PATFM32128PR = 128接收晶片– 聚焦法則的數(shù)量 達(dá)1024 – 發(fā)射的延遲范圍 0 µs ~ 10 µs,增量為2.5 ns – 接收的延遲范圍 0 µs ~ 6.4 µs,增量為2.5 ns – TFM/FMC
被支持的模式 脈沖回波:L-L、TT和TT-TT
一發(fā)一收:LL-L、TT-T、TT-L、TL-T、LT-T和TL-L聲束組的數(shù)量 同時顯示最多4個全聚焦方式(TFM)組 孔徑 OMNIX3-PATFM1664PR = 32晶片擴(kuò)展孔徑
OMNIX3-PATFM166128PR = 32晶片擴(kuò)展孔徑
OMNIX3-PATFM32128PR = 64晶片擴(kuò)展孔徑圖像分辨率 高達(dá)1024 × 1024(1 M點(diǎn)),針對每個全聚焦方式(TFM)聲波組 實(shí)時全聚焦方式(TFM)包絡(luò) 有 操作環(huán)境
侵入保護(hù)評級 符合IP65評級標(biāo)準(zhǔn)(防塵,且可抵御來自各個方向的水射流,6.3毫米噴嘴) 防撞擊評級 通過MIL-STD-810G的墜落測試 預(yù)期用途 室內(nèi)和室外使用 海拔高度 高達(dá)2000米 操作溫度 0 °C ~ 45 °C 存儲溫度 ?20 °C ~ 60 °C (內(nèi)含電池)
?20 °C ~ 70 °C (不含電池)
用于檢測焊縫的OmniScan X3探傷儀
OmniScan X3相控陣探傷儀,充分發(fā)揮檢測性能OmniScan探傷儀長期以來一直被為奧林巴斯相控陣焊縫檢測的主力儀器。OmniScan X3探傷儀在設(shè)置、成像和分析方面的表現(xiàn)更加出色,也使焊縫檢測工作更加輕松。
- 用戶可以在OmniScan儀器中進(jìn)行完整的設(shè)置,而無需使用PC機(jī)
- 改進(jìn)的快速校準(zhǔn)
- 多組全聚焦方式(TFM)圖像不僅 提高了圖像的分辨率,而且還對缺陷在圖像中的顯示位置進(jìn)行了幾何校正
- 標(biāo)準(zhǔn)的PR配置允許使用雙晶陣列探頭的較大孔徑
OmniScan X3探傷儀擅長于完成各種焊縫檢測應(yīng)用,其中包括:
- 在役焊縫和建筑焊縫
- 壓力容器
- 工藝管道
- 鍋爐管
- 管線
- 風(fēng)塔
- 結(jié)構(gòu)建筑
- 耐腐蝕合金和堆焊材料(奧氏體、鎳和其他粗晶材料)
用于檢測腐蝕和其他損傷情況的OmniScan X3探傷儀
- 利用相控陣技術(shù)進(jìn)行腐蝕檢測具有很多優(yōu)勢,其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。但是,熟練掌握相控陣技術(shù)具有一定的挑戰(zhàn)性。OmniScan X3探傷儀通過精心設(shè)計(jì)的軟件和簡單流暢的菜單為用戶提供高級功能,從而可使用戶簡單輕松地獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
- 儀器所提供的高級工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像,可用于檢測腐蝕或其他一些較難探測到的損壞現(xiàn)象,如:高溫氫致缺陷(HTHA)和氫致裂紋(HIC)
- 只需極為簡單的設(shè)置,就可以使用一個最多包含64個晶片的孔徑生成具有優(yōu)質(zhì)分辨率的 全聚焦方式(TFM)圖像
- 任何水平的操作人員在使用儀器時都會感到 得心應(yīng)手
- 得益于簡化的菜單結(jié)構(gòu)和設(shè)置向?qū)В?nbsp;用戶可以更輕松地設(shè)置復(fù)雜的解決方案,如:與HydroFORM掃查器配套進(jìn)行的檢測探測早期的高溫氫致(HTHA)缺陷
OmniScan X3探傷儀的實(shí)時全聚焦方式(TFM)包絡(luò)、高分辨率全聚焦方式(TFM)圖像(1024 × 1024點(diǎn)),以及64晶片孔徑可為早期的高溫氫致(HTHA)缺陷生成圖像,而在高溫氫致缺陷形成的初期探測到缺陷至關(guān)重要。