設(shè)備介紹
激光共聚焦顯微鏡脫離了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的場光源和局部平面成像模式, 采用激光束作光源,激光束經(jīng)照明針孔,經(jīng)由分光鏡反射至物鏡,并聚焦于樣品上,對標(biāo)本焦平面上每一點進(jìn)行掃描。組織樣品中如果有可被激發(fā)的熒光物質(zhì),受到激發(fā)后發(fā)出的熒光經(jīng)原來入射光路直接反向回到分光鏡,通過探測針孔時先聚焦,聚焦后的光被光電倍增管(PMT)探測收集,并將信號輸送到計算機,處理后在計算機顯示器上顯示圖像。在這個光路中,只有在焦平面的光才能穿過探測針孔,焦平面以外區(qū)域射來的光線在探測小孔平面是離焦的,不能通過小孔。因此,非觀察點的背景呈黑色,反差增加,成像清晰。由于照明針孔與探測針孔相對于物鏡焦平面是共軛的,焦平面上的點同時聚焦于照明針孔與探測針孔,焦平面以外的點不會在探測針孔處成像,即共聚焦。
儀器型號
奧林巴斯FV3000
技術(shù)參數(shù)
- 高分辨率掃描單元掃描分辨率4096*4096,掃描速度:512X512分辨率16幀。
- 光譜掃描精度2nm
- 激光器405 nm,488 nm,561 nm,640 nm
- 全光譜最小調(diào)節(jié)步進(jìn)1nm
- 熒光附件130W 長壽命熒光光源,含UV、B、G激發(fā)濾色鏡。
案例展示
應(yīng)用范圍
激光共聚焦掃描顯微鏡,共聚焦圖包括綜合幾何,功能性和粗糙度研究——以及創(chuàng)建詳細(xì)的表面分析報告。用于*的表面紋理分析,輪廓分析,顆粒與粒子分析,3D傅立葉分析,表面進(jìn)化分析和統(tǒng)計。