全新智能X射線衍射儀SmartLab，是當今高性能的多功能的X射線衍射儀，
它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺、智能
的測量分析軟件SmartLab Studio II，一臺儀器可以智能進行普通粉末樣品、
液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測試。
技術(shù)參數(shù)
1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶
2、測角儀為水平測角儀
3、測角儀最小步進為1/10000度，精度測角儀（雙光學(xué)編碼、直接軸上定位）（理學(xué)）
4、測角儀配程序式可變狹縫
5、自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺（理學(xué)）
6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學(xué)）
7、小角散射測試組件(SAXS / Ultra SAXS)
8、多用途薄膜測試組件
9、微區(qū)測試組件
10、In-Plane測試組件（理學(xué)）
11、入射端Ka1光學(xué)組件
12、高速探測器
13、二維面探
14、智能的測量分析軟件
主要特點
智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。
可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復(fù)合材料、有機材料、納米材料、超導(dǎo)材料
可以分析的材料狀態(tài)包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品
主要的應(yīng)用有：
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結(jié)晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld定量分析
5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區(qū)樣品的分析
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