DIL806光學(xué)熱膨脹儀采用了創(chuàng)新的測(cè)量原理,使非傳統(tǒng)的熱膨 脹實(shí)驗(yàn)成為可能,并改善了許多傳統(tǒng)的測(cè)試。
DIL 806采用了陰影光的方法。
DIL806測(cè)量本質(zhì)上是一個(gè)的測(cè)量,不受隨溫度程序變化的系統(tǒng)熱膨脹的影響。
DIL806采用了創(chuàng)新的板形爐,提供了的溫度均勻性和響應(yīng)時(shí)間。
非接觸式測(cè)量的*性。
DIL806提供了的靈活性的樣品類(lèi)型和制樣。
光學(xué)膨脹測(cè)量。
100 μm 高的檢測(cè)區(qū)域。
樣品的水平和垂直方向均可實(shí)現(xiàn)均勻的溫度。
測(cè)量方法無(wú)需校準(zhǔn)和校正。
不僅可在空氣中分析樣品,還可在真空和惰性氣體中進(jìn)行分析(這是金屬和金屬合金分析的關(guān)鍵要求)。
樣品長(zhǎng)度: | 0.3 – 30 mm |
樣品高度: | 刪除/廣泛 10 mm |
位移變化: | 刪除/廣泛 29 mm |
位移分辨率: | 50 nm |
溫度分辨率: | 0.1 ℃ |
α 準(zhǔn)確度: | 0.03 x 10-6 K-1 |
溫度范圍: | -150 ℃ 至 -600 ℃、室溫到 900 ?C 、室溫到 1400 ?C |
氣氛: | 真空、惰性氣體、空氣、DIL 806L: 空氣 |
陶瓷釉料、原料與燒結(jié)后的陶瓷、玻璃化轉(zhuǎn)變和軟化溫度、燒結(jié)過(guò)程、薄膜的熱膨脹、快速燒成陶瓷等。