數(shù)模比對(duì)目的:在研發(fā)階段模具設(shè)計(jì)人員需要得到試驗(yàn)件與CAD數(shù)模之間的差距,根據(jù)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修模。通過(guò)工業(yè)CT及分析軟件可以將掃描結(jié)果與CAD數(shù)模進(jìn)行擬合,以直觀的色彩偏差快速形象地顯示,不僅可以得到工件整體的偏差,還能得到關(guān)鍵位置的具體偏差值。實(shí)際生產(chǎn)的產(chǎn)品與理想的CAD模型可能存在一定尺寸差異從而影響產(chǎn)品的性能和使用,幫助分析對(duì)比存在的差異反諸于生產(chǎn)工藝的改進(jìn)。
三維X射線掃描(簡(jiǎn)稱(chēng)CT)是以非破壞性X射線透視技術(shù),將待測(cè)物體做360°自轉(zhuǎn),通過(guò)單一軸面的射線穿透被測(cè)物體,根據(jù)被測(cè)物體各部分對(duì)射線的吸收與透射率不同,收集每個(gè)角度的穿透圖像,之后利用電腦運(yùn)算重構(gòu)出待測(cè)物體的實(shí)體圖像。
CT是采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)(NDT)和無(wú)損評(píng)價(jià)(NDE)的手段,利用斷層成像技術(shù),可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化測(cè)量、組裝瑕疵或材料分析。
CT掃描取代傳統(tǒng)的破壞性監(jiān)測(cè)和分析,任何方向上的非破壞性切片和成像,不受周?chē)?xì)節(jié)特征的遮擋,可直接獲得目標(biāo)特征的空間位置、形狀及尺寸信息。
圖為某客戶送檢樣品,通過(guò)CT掃描分析,快速實(shí)現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)與CAD模型的比對(duì),色譜偏差分析,清晰的展現(xiàn)尺寸差異。
原文標(biāo)題:工業(yè)CT檢測(cè)-數(shù)模比對(duì)