布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀ContourGT-X
ContourGT-X 三維光學(xué)輪廓儀提供高性能非接觸表面測量,適用于實驗室研究和生產(chǎn)過程控制。該測量系統(tǒng)融合了十代白光干涉(WLI)創(chuàng)新和設(shè)計,可在業(yè)界的視場范圍內(nèi)提供的垂直分辨率。該系統(tǒng)主要包括全自動化系統(tǒng)與生產(chǎn)界面,一個大型電動 XYZ 平臺、掃描頭的傾斜/俯仰以及一個集成氣浮式防震臺。ContourGT-X 專為滿足的研發(fā)、質(zhì)量保證和工藝質(zhì)量控制需求而設(shè)計,提供了具有計量能力的三維光學(xué)精度和測試穩(wěn)定性解決方案。