布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀ContourX-100
具備性價比的 ContourX-100 光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測量樹立了新基準(zhǔn)。該系統(tǒng)占地面積小,所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉(WLI)創(chuàng)新技術(shù),具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測量能力。新一代增強(qiáng)功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺,實(shí)現(xiàn)更多縫合功能,并新增一個測量模式 USI,提升了精加工表面、厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱的臺式系統(tǒng)。