新一代電感耦合等離子發(fā)射光譜儀
垂直雙觀測結構(DSOI)提升了靈敏度,同時降低了樣品基體效應
以一當二:炬管既可垂直又可水平放置的主機,可快速切換以滿足真正的雙向觀測要求
ORCA光路結構:同時讀取130-770nm譜線信號,和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學系統(tǒng)相比,光強度信號可提升5倍,紫外/遠紫外區(qū)的靈敏度提高
SPECTRO ARCOS型等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES)超越了當代工業(yè)和科研領域金屬、化學、石化、材料等行業(yè)元素分析的要求。
MultiView設計讓使用者可以在90秒內將垂直炬管“旋轉”成水平炬管,反之亦然。垂直炬管附加了雙觀測光路接口以增加光通量,提高了靈敏度,降低了基體效應,兩全其美。
由CMOS組成的線性陣列檢測器,無需制冷,無溢出效應,可記錄樣品基體強譜線中微弱的目標譜線信號,檢測動態(tài)范圍更寬。
SPECTRO ARCOS具有低故障、高可靠、產品壽命長的特點,使用成本很低。主機底座按照人體工程學設計,將無需吹掃的遠紫外密閉光路、風冷系統(tǒng)、智能閥切換(選件)、便攜式視頻裝置等多項斯派克的技術集合在一起。
新的SPECTRO ARCOS有六種機型可選,滿足客戶對觀測方式和波長范圍的各種不同要求。
SPECTRO 擁有完整的ICP光譜產品線,其他型號包括:SPECTROGREEN和SPECTRO GENESIS。