X射線衍射儀 XRD-7000SL
采用樣品水平型測(cè)角儀,操作非常便利。豐富的選配件支持多種多樣的應(yīng)用。L型可對(duì)應(yīng)口350mm的大型樣品。
x射線發(fā)生部:2kW或3kW(CPU控制)·測(cè)角儀:日sie d聯(lián)動(dòng),日5. 日d獨(dú)立
·掃描志圖:12°~161(2日1,6°~ 82°(63s),6°~ 132-(日 d)·選配件:
大型R-日樣品臺(tái),多毛細(xì)管平行光學(xué)系統(tǒng)
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等。并且,可通過峰面積計(jì)算進(jìn)行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精細(xì)X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析
配備具有0.0001°較小步進(jìn)的高精度樣品水平型測(cè)角儀。根據(jù)分析目的,可以選擇適合分析大型樣品的L型(較大350mmφ樣品)和通用的S型。
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀,能夠測(cè)定大型樣品。
· 不但可進(jìn)行定性/定量等基本分析,還可以應(yīng)用于殘留奧氏體定量、環(huán)境定量、晶格常數(shù)的精細(xì)化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、晶系確定、Rietveid結(jié)構(gòu)解析軟件進(jìn)行的晶體結(jié)構(gòu)解析。通過追加附件,還可以應(yīng)用于應(yīng)力測(cè)定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測(cè)定等。