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Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng)-華普通用

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公司名稱深圳華普通用科技有限公司
品牌
型號Model3650
所在地
廠商性質(zhì)代理商
更新時間2023/5/7 16:19:35
訪問次數(shù)233

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公司介紹主營產(chǎn)品

深圳華普通用科技有限公司(簡稱華普通用)是一家專業(yè)從事儀器儀表代理的綜合性服務(wù)公司。德國斯派克：www.hpge.com.cn公司前身于2004年成立。目前已經(jīng)成為國內(nèi)較大的儀器經(jīng)銷商，系統(tǒng)集成商和綜合服務(wù)商之一。
公司業(yè)務(wù)分為電子測試儀器部，化學(xué)分析儀器部，材料分析儀器部，電磁兼容測試儀器部以及芯片燒錄設(shè)備部。華普通用與美國力科(LECORY)、美國吉時利(KEITHLEY)、美國科學(xué)儀器公司STI、美國SerialTek、德國斯派克(SPECTRO)、美國SANBlaze、瑞士特測(TESEQ) 、中國臺灣崇貿(mào)(SystemGeneral) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDOTelecom SL、日本TAKAYA等數(shù)十家*儀器制造商在中國區(qū)有著廣泛的合作。 *致力于為電子信息、教育科研、電力石化、醫(yī)藥衛(wèi)生、金屬塑膠等領(lǐng)域提供分析測試儀器和系統(tǒng)集成。2013年營業(yè)額超過1億元人民幣。
公司總部位于深圳市南山區(qū)科技園，在北京、上海、香港、廣州、蘇州、廈門等地設(shè)有分支機構(gòu)，員工人數(shù)50多人。通過與分銷伙伴的合作，擁有覆蓋全國的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)。華普通用擁有一批技術(shù)型的銷售工程師和專業(yè)的售后隊伍，在多年的發(fā)展中積累了大量的案例和經(jīng)驗，能夠給客戶提供迅速、完善、專業(yè)的服務(wù)。長風(fēng)破浪會有時，直掛云帆濟滄海，華普通用將通過不懈的努力，繼續(xù)專注于為客戶提供分析測試解決方案，和客戶一起成功！

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產(chǎn)品簡介在線詢價

Chroma 3650可在一個測試頭中，提供最多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能，可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。

Chroma Model3650 SoC測試系統(tǒng)-華普通用產(chǎn)品信息

SoC測試系統(tǒng)主要特色：

50/100MHz測試工作頻率
512個 I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
32 DUTS 平行測試功能
ADC/DAC 測試功能
硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等

實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案

平行測試功能
Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個測試頭中，提供最多512 個數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能，可同時測試32 個待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個數(shù) 位通道的時序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準度。

彈性化架構(gòu)
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時間需求的設(shè)備之上。Chroma3650在設(shè)計其架構(gòu)時，應(yīng)用* 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的測試需求。

CRISP (軟體測試環(huán)境)
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設(shè) 計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試參數(shù)，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生產(chǎn)人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產(chǎn)品導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)、晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設(shè)計者可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操作員所需進行的工作，只是選擇程式設(shè)計者已規(guī)劃好的流程，即可開始量產(chǎn)，大幅降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時間。

價位的測試解決方案
要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功能強大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達成具成本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時間和整體成本來達成，而非只是簡單地減少測試系統(tǒng) 的價格而已。Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)的設(shè)計即是可適用于所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗證、晶圓測試和成品測試。周邊設(shè)備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機，包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝置之間的溝通。

應(yīng)用支援
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計皆能精準地符合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機會、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡所能提供客戶即時解有效率的解決方案。

SOC測試系統(tǒng)