材料性鑒別(PMI)在金屬制造、石化生產(chǎn)以及消費(fèi)產(chǎn)品中起到重要作用。不但在正確的地方選用正確合適的金屬或合金至關(guān)重要，而且還要確保材料成分沒有偏差（如重金屬的污染）。X射線熒光分析儀（XRF）是種用于金屬部件材料性鑒別(PMI)以確認(rèn)所用金屬或合號(hào)是否正確無誤的簡便的方法。
手持式XRF分析儀攜帶方便，樣品處理簡單，并且可以快速獲得檢測結(jié)果。對于XRF分析儀常見的應(yīng)用之，合金鑒別，使用我們的EXPLORER5000 XRF分析儀僅需1-2秒時(shí)間就可識(shí)別合號(hào)。
材料成分
手持式XRF分析儀能夠定量分析元素周期表上從鎂到重元素等超過90%的元素，覆蓋了常用商品合金所含有的絕大多數(shù)元素。圖1為常見合金元素的1檢測限。XRF分析儀能夠?qū)︿X合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、工具鋼、鎳基或鈷基等“超級(jí)合金”進(jìn)行材料牌號(hào)匹配和元素定量分析。
圖1:常規(guī)合金元素1的代表性檢測限。
手持式XRF分析儀無法直接測量比鎂輕的元素。其中包括諸如鋰、鈹和碳等元素。這些元素與很多應(yīng)用有關(guān)，比如：
某些航天用鋰合金中的鋰
某些銅合金中的鈹
許多低合金鋼中的碳
但許多此類合金的牌號(hào)仍然可以根據(jù)其他合金元素的組分進(jìn)行鑒別。如果需要定量分析這些輕元素，那就需要使用其他分析方法了。
試樣條件
XRF分析儀的工作原理可以概述如下：(1) 發(fā)射X射線，激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光; (2) 探測器接收X射線熒光; (3) 利用復(fù)雜的運(yùn)算對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理; (4) 牌號(hào)識(shí)別 (圖2)。XRF是種表面檢測技術(shù)。對于諸如鋁制類的輕合金，XRF分析儀只能對試樣表面深度幾百微米進(jìn)行測量。對于鑄鐵或銅等主要金屬，XRF分析儀對試樣的測量深度小于百微米。而對于金或鉛等致密材料，其僅能測量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面體現(xiàn)總體成分這點(diǎn)非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會(huì)對分析造成極大影響。與此類似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料性鑒別。因此在使用XRF分析儀進(jìn)行檢測之前務(wù)必對試樣進(jìn)行清潔。
使用X射線熒光進(jìn)行材料性鑒別的流程。
手持式XRF分析儀采用低功率X射線管。由于發(fā)射和接收的X射線功率較低，將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下，試樣應(yīng)當(dāng)與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復(fù)雜的幾何形狀那么就會(huì)存在很大難度，但Vanta分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。
試樣表面溫度
XRF的X射線物理特性基本上不會(huì)受試樣溫度變化的影響。此外，EXPLORER5000 XRF分析儀性能，不會(huì)受到環(huán)境條件變化的影響。該儀器在-10°C和50°C(14–122°F)2之間的工作溫度范圍使用時(shí)不會(huì)發(fā)生溫度漂移或性能降低。
EXPLORER5000分析儀可測量溫度可達(dá)100°C (212°F)的試樣。高于上述溫度時(shí)，儀器檢測窗上的聚丙烯薄膜可能會(huì)受到損壞。奧林巴斯可為高溫檢測提供替用的面板。該面板包括能夠測量溫度高達(dá)315°C (600°F)試樣的Kapton檢測窗。
結(jié)論
X射線熒光光譜法是種功能強(qiáng)大的元素定量分析方法。利用其的分析能力和簡便易用性能夠快速地進(jìn)行材料性鑒別（PMI）。其不但可以幫助避免生產(chǎn)損失，更重要的是還可以避免因使用錯(cuò)誤材質(zhì)造成的人身傷亡事故。
廠家介紹
是專業(yè)生產(chǎn)手持式光譜儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀,鍍層測厚儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，ROHS檢測儀，X射線鍍層測厚儀，，ROHS測量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測儀， ROHS檢測儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GCMS6800，ICPMS2000等。
