賽默飛 K-Alpha+ X射線光電子能譜儀系統(tǒng)是一款集成的X射線光電子能譜。獲獎的版K-Alpha平臺特征光譜性能顯著提高，提供更高計數(shù)率和更快分析時間，改善化學探測能力。分析選配件包括一個角分辨XPS傾斜模塊和一個循環(huán)惰性氣體手套箱，用于轉移空氣敏感樣品。K-Alpha帶來一系列激動人心的新軟件特征，旨在進一步增強用戶體驗。賽默飛 K-Alpha+ X射線光電子能譜儀系統(tǒng)是專為多用戶環(huán)境而設計，*的單色X射線光電子能譜性能與智能自動化及直觀控制相結合，同時滿足有經(jīng)驗XPS分析人員及新人對此項技術的需求。
以最小的投入獲得專家研究級的結果。Thermo Scientific™ K-Alpha™+X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)是一種集成式單色小光斑 XPS 系統(tǒng)，具備深度剖析能力。的性能、更低的擁有成本、更高的易用性以及緊湊的尺寸，使 K-Alpha X 射線 XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。
以屢獲殊榮的 K-Alpha XPS 系統(tǒng)為基礎打造，K-Alpha+ 能譜儀可提供顯著增強的能譜性能。這個巨大的進步可實現(xiàn)更快的分析、更好的元素檢測以及獲得更高分辨率的數(shù)據(jù)以更好地完成化學狀態(tài)鑒定。
分析選項包括革命性的復合型離子源、一個用于將空氣敏感樣品從手套箱轉移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊，以及用于收集 ARXPS 數(shù)據(jù)的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)（全面的表面分析軟件系統(tǒng)），K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能，專為優(yōu)化數(shù)據(jù)解讀、數(shù)據(jù)報告和可用性而設計。K-Alpha+ XPS 系統(tǒng)可滿足經(jīng)驗豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能 單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動化和直觀控制結合在一起。
強大的性能
可選面積能譜分析
濺射深度剖析
微聚焦單色器
快照采集
高分辨率化學狀態(tài)能譜分析
絕緣樣品分析
定量化學成像
無以倫比的易用性
采集——能譜、圖像、剖析、線掃描
解讀—— 元素和化學狀態(tài)鑒定
處理 —— 定量、分峰擬合、實時剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學/XPS 圖像疊加
報告—— 自動生成報告且可輕松導出到其他軟件包
所有硬件都通過 Avantage 軟件界面進行控制
Avantage Indexer——數(shù)據(jù)存檔索引
審計跟蹤記錄
系統(tǒng)性能記錄
按需校準
的遠程操控
主要特點
分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器，配備 128 通道檢測器
X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器，可變光斑尺寸（30-400 µm，以 5 µm 為步長）
離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV
荷電補償——雙束源
樣品處理——4 軸樣品臺、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm 樣品厚度
真空系統(tǒng)——2 x 220 L/s 渦輪分子泵，用于進樣室和分析室
可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™ 復合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。