X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

　　為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，必須對生產(chǎn)過程中的原材料的化學(xué)成分進行及時、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)過程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。

　　X熒光光譜儀分類：

　　X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。

　　以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。

　　X射線熒光分析儀原理及特點：

　　熒光，顧名思義就是在光的照射下發(fā)出的光。

　　從原子物理學(xué)的知識我們知道，對每一種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子核的束縛，成為自由電子，我們說原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)，這時，其他的外層電子便會這一空位，也就是所謂躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。

　　量子力學(xué)知識告訴我們，X 射線具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作電磁波?？醋髁Ｗ訒r的能量和看作電磁波時的波長有著一一對應(yīng)關(guān)系。這就是的普朗克公式：E=hc/λ。顯然，無論是測定能量，還是波長，都可以實現(xiàn)對相應(yīng)元素的分析，其效果是一樣的。

　　X熒光光譜儀主要用途：

　　X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。

　　近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。

　　大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

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