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Semyos能量色散式X射線(xiàn)熒光光譜儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng)英國(guó)馬爾文儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2023/3/19 17:53:31
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)232
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各個(gè)行業(yè)和組織的科學(xué)家和工程師將 Malvern Panalytical 的技術(shù)用來(lái)解決一系列難題,如地提高生產(chǎn)率、開(kāi)發(fā)更高質(zhì)量的產(chǎn)品及幫助產(chǎn)品更快速地上市。 我們的重中之重是通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行化學(xué)、物理和結(jié)構(gòu)分析,打造出客戶(hù)導(dǎo)向型創(chuàng)新解決方案和服務(wù),從而提高效率和產(chǎn)生切實(shí)的經(jīng)濟(jì)影響。 憑借廣泛的行業(yè)知識(shí)和技術(shù)及應(yīng)用專(zhuān)業(yè)技術(shù),Malvern Panalytical 儀器旨在幫助用戶(hù)更好地了解各種各樣的材料,從蛋白質(zhì)和聚合物、顆粒和納米顆粒懸浮液和乳狀液,再到噴霧劑和氣霧劑、工業(yè)散裝粉末、礦物和高濃度漿類(lèi)樣品及固體,例如金屬和建筑材料、塑料和聚合物。 使用我們的技術(shù)可以測(cè)量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱(chēng)、Zeta 電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、流變性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)等參數(shù)。 這些特性的高可靠性和耐用性對(duì)于預(yù)測(cè)產(chǎn)品在使用過(guò)程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實(shí)現(xiàn)制造至關(guān)重要。Malvern Instruments Limited 和 PANalytical B.V. 宣布合并,新公司名為 Malvern Panalytical,總部位于阿爾默洛(荷蘭)和馬爾文(英國(guó)),擁有 2,000 多名員工。 合并后的公司將成為材料表征市場(chǎng)上強(qiáng)有力的競(jìng)爭(zhēng)者和創(chuàng)新者,并且將充分利用兩家公司各自在建筑材料、制藥、金屬、礦業(yè)及納米材料等終端市場(chǎng)中的優(yōu)勢(shì)。 遍布的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室以及受強(qiáng)大分銷(xiāo)商網(wǎng)絡(luò)支持的銷(xiāo)售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)將確保提供的客戶(hù)支持水平。Malvern Panalytical 隸屬于制造提高生產(chǎn)率的儀器和控制設(shè)備的思百吉集團(tuán)。
Semyos能量色散式X射線(xiàn)熒光光譜儀
Semyos能量色散式X射線(xiàn)熒光光譜儀 產(chǎn)品信息
品牌PANALYTICAL/帕納科

Semyos能量色散式X射線(xiàn)熒光光譜儀儀器簡(jiǎn)介:

PANalytical's Semyos energy-dispersive XRF wafer analyzer is the latest of our successful process control tools designed specifically for semiconductor and data storage metrology. This versatile instrument determines layer composition and thickness uniformity for a wide range of process films.

Moreover, with its<23um FWHM microspot, it is able to measure in the scribelines or in dedicated metrology areas on production wafers.

The Semos wafer analyzer is an advanced metrology tool that addresses the Semyos能量色散式X射線(xiàn)熒光光譜儀following industry demands:
* On-product thin film metrology
* In-line process control
* Simultaneous determination of film thinkness and composition
* Ability to characterize single films and multi-layer stacks
* Excellent repeatability and reproducibility (Gauge R&R)
* Minimal COO through excellent uptime, high throughput and minimum consumption of utilities


主要特點(diǎn):

Semyos: Addressing the needs of the semiconductor and data storage industry.

Microspot XRF analysis on production wafers
Versatile wafer handling
For in-line production XRF analysis
Designed for ease-of-use

關(guān)鍵詞:熒光光譜儀 光譜儀
15168338725
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