日本（Nikon）尼康XT H 450 工業(yè)CT掃描系統(tǒng)

XT H 450系統(tǒng)提供足夠的射線源功率，以穿透高密度零件并產(chǎn)生微米精度的無散射CT圖像。該設(shè)備的核心是一個(gè)450千伏微焦點(diǎn)源，它以450瓦功率提供足夠的X射線功率穿透高密度樣品，并同時(shí)獲得高分辨率和精度。該系統(tǒng)配有平板探測(cè)器（用于三維錐形束CT）或?qū)Ｓ械膹澢€性二極管陣列（CLDA）（用于二維扇形束CT），可優(yōu)化X射線的收集，不會(huì)捕獲不需要的散射射線。

450千伏微焦點(diǎn)

專有的450千伏射線源達(dá)到該功率的微焦點(diǎn)射線源，它使XT H 450系統(tǒng)可以提供25微米的重復(fù)性和精度。由于這種微焦點(diǎn)的光斑尺寸比現(xiàn)有的小焦點(diǎn)源要小得多，所以它所捕捉到的細(xì)節(jié)水平是后者的。使用旋轉(zhuǎn)靶可使450千伏射線源的細(xì)節(jié)捕獲速度提高5倍，或使相同掃描時(shí)間內(nèi)的精度更高。

CLDA技術(shù)

當(dāng)X射線擊中物體時(shí)，它們會(huì)被吸收，但也會(huì)產(chǎn)生散射，這種現(xiàn)象會(huì)隨對(duì)象密度增加而加重。散射射線因其在平板圖像上可見，因此會(huì)降低圖像的對(duì)比靈敏度。Nikon Metrology開發(fā)了CLDA，它可以優(yōu)化X射線的收集，不會(huì)捕獲不必要的散射射線。通過避免圖像污染和相關(guān)的對(duì)比度降低，CLDA實(shí)現(xiàn)了驚人的圖像清晰度和對(duì)比度。與直線陣列相比，二極管的線性陣列是彎曲的，通過保持X射線到二極管接收器的路徑長(zhǎng)度恒定來進(jìn)一步提高圖像質(zhì)量。這允許使用更長(zhǎng)的晶體來增強(qiáng)X射線靈敏度，從而提高信噪比并縮短掃描時(shí)間。

鑄件檢測(cè)

對(duì)高密度工業(yè)物體（如大型鑄件）進(jìn)行高精度檢測(cè)需要該級(jí)別的微焦點(diǎn)源。XT H 450 3D系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是為了在掃描大型物體（例如大型低密度鑄件）時(shí)提供行業(yè)的性能，在這種情況下，散射不是一個(gè)限制因素。對(duì)于易散射的高密度鑄件，XT H 450可以通過結(jié)合CLDA 2D CT切片構(gòu)建3D立體。

渦輪葉片檢測(cè)

450千伏射線源與CLDA相結(jié)合，非常適合中小型金屬合金渦輪葉片的射線照相以及CT檢測(cè)和計(jì)量。該X射線系統(tǒng)提供足夠的射線源能量 以穿透部件并產(chǎn)生無散射CT數(shù)據(jù)。在生產(chǎn)環(huán)境中，系統(tǒng)執(zhí)行自動(dòng)數(shù)據(jù)采集、高速CT重構(gòu)和檢測(cè)，生成各個(gè)被檢測(cè)零件的合格／不合格狀態(tài)。葉片制造商可以對(duì)渦輪葉片（如壁厚）進(jìn)行詳細(xì)的CT計(jì)量檢測(cè)，以優(yōu)化噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)的燃油消耗。

定制的多功能性CT

如果標(biāo)準(zhǔn)X射線和CT系統(tǒng)無法滿足貴公司的特定需要，Nikon Metrology還提供定制CT系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以內(nèi)置在（現(xiàn)有）機(jī)柜或恒溫恒濕箱中。這些模塊化系統(tǒng)支持多源、多探測(cè)器、特定操控裝置，并且可以自定義配置以適應(yīng)各種應(yīng)用。

智能軟件

直觀、易用的軟件簡(jiǎn)化了復(fù)雜樣品的CT掃描過程，有利于準(zhǔn)確檢測(cè)。Inspect-X由公司自主開發(fā)，旨在讓新手用戶和熟練用戶均可輕松獲取和重構(gòu)CT數(shù)據(jù)。Inspect-X最關(guān)鍵的是其智能化，可以隨時(shí)為用戶提供當(dāng)前所需信息，因此簡(jiǎn)化了任務(wù)流程。

ASTM E2737

根據(jù)ASTM E2737評(píng)估和跟蹤探測(cè)器的性能。所有必要功能均由專用軟件執(zhí)行，其中包括偽影處理、圖像采集和數(shù)據(jù)分析，以及通過的性能跟蹤和趨勢(shì)分析，自動(dòng)快速創(chuàng)建詳細(xì)報(bào)告。

全可編程軟件 

Inspect-X通過其可編程接口提供出色的控制，這在X射線CT市場(chǎng)上是具有特色的。它延伸出了更多可能性，支持按需自定義測(cè)量，例如延時(shí)CT或在生產(chǎn)線內(nèi)集成檢測(cè)系統(tǒng)。

CT向?qū)?/span> 

采集過程中直觀地引導(dǎo)用戶采集CT數(shù)據(jù)。

快速重構(gòu) 

我們的重構(gòu)處于行業(yè)水平，由公司自主開發(fā)和控制。

靈活的解決方案 

Inspect-X具有多種掃描技術(shù)，可滿足各種苛刻的應(yīng)用要求。除了傳統(tǒng)的環(huán)形掃描，還有能提高垂直掃描高度的螺旋掃描，以及能提高樣品特定小區(qū)域分辨率的有限角度掃描。

簡(jiǎn)單界面 

射線照片大圖和清晰的圖標(biāo)，以及簡(jiǎn)單的用戶界面降低了操作者的學(xué)習(xí)難度。

一鍵式 

從掃描庫(kù)中選擇部件類型后，只需按一個(gè)按鈕即可開始掃描、重構(gòu)數(shù)據(jù)、執(zhí)行分析并輸出結(jié)果文件。

豐富的應(yīng)用范圍 

對(duì)于任何需要檢測(cè)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的應(yīng)用，X射線和CT技術(shù)都可以 有效提供有用信息。在各行各業(yè)開展質(zhì)量控制、失效分析和材料研究時(shí)，詳細(xì)拍攝和測(cè)量?jī)?nèi)部特征通常都至關(guān)重要。

? 故障檢測(cè)和缺陷分析

? 復(fù)雜機(jī)構(gòu)的裝配檢測(cè)

? 內(nèi)部組件的尺寸測(cè)量

? 實(shí)物和CAD的對(duì)比

? 的材料研究

? 生物結(jié)構(gòu)的分析

? 模型的數(shù)字化存檔

汽車 

? 電子連接器

? 噴油嘴

? 傳感器（例如Lambda傳感器等）

? LED光管

? 小型高壓壓鑄件

? DPF（柴油微粒過濾器）

航空 

? 渦輪葉片蠟?zāi)?

? 鑄造渦輪葉片

? 部件裂紋分析

? 焊縫分析

注塑成型 

? 復(fù)雜塑料部件（例如風(fēng)扇）

? 接觸式，光學(xué)測(cè)量無法檢測(cè)的軟體或半透明材料

? 超聲波焊接塑料件

制藥／醫(yī)療 

? 藥品分配器

? 小型科研（儀器、支架、等）

? 小型塑料或復(fù)合材料部件

? 骨結(jié)構(gòu)

? 植入物（牙、髖、膝、顱骨）

研究 

? 物料檢定和分析（如結(jié)構(gòu)、焊點(diǎn)孔隙、缺陷等）

? 古生物學(xué)（如骨骼、渣殼、化石等）

? 地質(zhì)與土壤學(xué)

? 考古學(xué)

? 可再生能源（電池、太陽能電池等）

450kV的微焦點(diǎn)射線源

450kV的微焦點(diǎn)射線源 
XTH450LC，應(yīng)用于渦輪葉片測(cè)定以及眾多中小型鑄件的無損檢測(cè)領(lǐng)域，并慢慢成為一種新的重要檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)型號(hào)的機(jī)器核心450kV微焦點(diǎn)射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測(cè)器更是讓曲面效應(yīng)以及射線散射現(xiàn)象等得到根本解決，在渦輪葉片以及其他眾多金屬零件的檢測(cè)中得到近乎的效果。

主要特點(diǎn):

? 獨(dú)立的450kV微焦點(diǎn)射線源 
? 可掃描樣品的尺寸達(dá)到直徑500mm，高度600mm 
? 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門讓樣品的放置以及維護(hù)檢測(cè)變得更加方便 
? 五軸樣品操作臺(tái)載重可達(dá)100kg 
? 高效率的線陣探測(cè)器與面陣平板探測(cè)器可以同時(shí)搭載以滿足不同需求。（選配） 
? 專門為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應(yīng)用程序。 

引進(jìn)功能:

? 將靈活性整合到一個(gè)系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測(cè)，CT重構(gòu)精密解析 
? 快速獲取高品質(zhì)圖像 
? 人機(jī)交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀 
? 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理 
? 不需要特別外加防護(hù)的完備安全系統(tǒng) 
? 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式

用途:

? 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細(xì)分析 
? 渦輪葉片的合格與否自動(dòng)判定 
? 幾十微米級(jí)別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測(cè)

XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測(cè)，

XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測(cè)， 
帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源 

Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測(cè)量和中小鑄件NDT檢測(cè)的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺(tái)功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度。 
彎曲的線性陣列探測(cè)器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會(huì)影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測(cè)器是一臺(tái)非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等 

優(yōu)點(diǎn): 

? 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測(cè)，CT可用于深入分析 
? 快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像 
? 高分辨率數(shù)字成像和處理 
? 嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志

特性:
? 的450kV微焦點(diǎn)源 
? 測(cè)量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度 
? 高效線性探測(cè)器，>80%量子檢測(cè)有效率 
? 五軸可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌 
? 特別適用于渦輪葉片的自動(dòng)通過/不通過檢測(cè)

應(yīng)用: 
? 渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析 
? 葉片的自動(dòng)通過/不通過檢測(cè) 
? 需要微米精度的高密度部件檢測(cè)（例如金屬件、鑄件）

產(chǎn)品規(guī)格及參數(shù)：

產(chǎn)品資料下載：