LiteScope™是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據(jù)客戶需求，定制并提供適當(dāng)?shù)倪m配器和反饋機(jī)制，很容易通過(guò)四個(gè)螺絲將LiteScope™固定在電子顯微鏡的樣品臺(tái)上，通過(guò)線纜與控制器、電腦進(jìn)行連接。 LiteScope™通過(guò)可更換探針進(jìn)行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。 綜合分析包括：表面形貌表征、機(jī)械性能、電性能、磁性能。
主要功能
LiteScope™提供并支持各種SPM測(cè)量方法和各種探針，其設(shè)計(jì)基礎(chǔ)和價(jià)值的技術(shù)特征是通過(guò)不同的探針夾，使用不同的探針以達(dá)到測(cè)試要求。其主要測(cè)試功能：原子力顯微鏡（AFM）、靜電力顯微鏡(EFM)、局部電壓/電流測(cè)量、力調(diào)制模式（FMM）、開(kāi)爾文探針力模式（KPFM）、磁力顯微鏡（MFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、納米壓痕。
技術(shù)特點(diǎn)
LiteScope™采用關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM），該技術(shù)利用兩種不同的技術(shù)對(duì)同一物體城鄉(xiāng)的方法。CPEM能夠同時(shí)對(duì)樣品表面的同一個(gè)區(qū)域進(jìn)行SEM和AFM表征。
LiteScope™通常用于高真空環(huán)境，但也可根據(jù)要求適用于超高真空環(huán)境。
工作溫度：+15°C至 +25°C
標(biāo)準(zhǔn)工作壓力：10-5Pa~105 Pa
外形尺寸： 129 mm x 90 mm x 45-55 mm
掃描面積： 22 mm x 11 mm x 8 mm
掃描范圍： 100 um x 100 um x 100 um
分辨率： 0.2nm
技術(shù)能力
優(yōu)勢(shì)
的關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）
綜合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、導(dǎo)電性、電性能
在樣品表面對(duì)針尖進(jìn)行精確導(dǎo)航定位
5分鐘內(nèi)輕松集成和安裝/拆卸
即插即用
與FIB、GIS、EDX等附件兼容
無(wú)需光學(xué)探測(cè)、無(wú)需激光調(diào)節(jié)的自感應(yīng)探頭
商用探針，多種測(cè)量模式
可根據(jù)客戶要求定制探針適配于合適的探針夾
測(cè)量頭可縮回LiteScope™的主體，以節(jié)省樣品周圍的空間。
傾斜操作（傾斜0°–60°），最小WD=5 mm
軟件友好，無(wú)需特殊安裝
遠(yuǎn)程訪問(wèn)結(jié)果和測(cè)量設(shè)置
應(yīng)用
生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化結(jié)構(gòu)的SEM/AFM表征
金納米粒子與石墨烯掩膜的結(jié)合是一種新的制備適用于表面增強(qiáng)拉曼光譜（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作為針孔鈍化層，防止等離子體納米結(jié)構(gòu)氧化。金粒子與石墨烯的接觸程度對(duì)SERS的靈敏度有重要影響。因此，了解石墨烯膜對(duì)單個(gè)納米顆?；虼祟惣{米顆粒簇的遮蓋方式非常重要。可使用CPEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。雖然LiteScope™SPM（AFM）可以對(duì)納米顆粒上的石墨烯層進(jìn)行表面成像，但SEM可以對(duì)石墨烯層下的納米顆粒進(jìn)行成像。
含HFO2顆粒的W-Cr固溶體退火后的降解
在1000°C下退火10小時(shí)后W-10Cr-1HF（含HFO2顆粒的固溶W-Cr）的分解?？紫缎纬捎诙趸x顆粒周圍，同時(shí)也形成富鉻部分（深色片晶或點(diǎn)）和富W部分（片晶之間的亮區(qū)）。利用CPEM可以快速、準(zhǔn)確地識(shí)別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對(duì)比度，很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙。用CPEM技術(shù)研究了樣品表面的腐蝕速率。
膠原支架上間充質(zhì)干細(xì)胞的研究
采用冷凍干燥法制備膠原支架（Ceitec-but，RG 2.3）。然后，用間充質(zhì)干細(xì)胞接種支架，在標(biāo)準(zhǔn)培
件下培養(yǎng)6天（馬薩里克大學(xué)組織胚胎學(xué)系）。最后，用和醋酸鈾酰對(duì)支架進(jìn)行染色，以獲得更好
的視覺(jué)效果。由于的LiteScope™及其通過(guò)掃描電鏡精確的AFM導(dǎo)航，在不損壞支架孔中探針的情
況下，才有可能對(duì)制備的細(xì)胞進(jìn)行測(cè)量。利用CPEM，可以同時(shí)用電子束和探針掃描同一個(gè)細(xì)胞并獲得圖
像，以及細(xì)胞與基質(zhì)的相互作用，這意味著細(xì)胞在支架后的擴(kuò)展更大——更好的粘附力和更友好的環(huán)境。
