深度剖析——PP-TOFMS PP-TOFMS是HORIBA新研發(fā)的一款專用于固體材料中化學成分深度剖析的質(zhì)譜分析儀。 PP-TOFMS主要由剝蝕和激發(fā)樣品材料的輝光放電等離子體源和飛行時間質(zhì)譜儀耦合而成。 高通量和通用性深度剖析技術 高離子密度使得輝光放電等離子體的濺射速率非?？?，此外，由于樣品分析無需超高真空腔，可以極大地縮短預分析時間。通常，一個亞微米厚的薄膜僅需幾分鐘就可獲得分析結果。 PP-TOFMS采用的射頻激發(fā)源適用于任何類型的材料分析，從導體到非導體（如厚玻璃基體上的薄膜）；從無機材料到混合材料。柔性基底材料表面的鍍層通過簡單的樣品預處理后，同樣也可采用PP-TOFMS進行深度剖析。 高動態(tài)范圍 PP-TOFMS是一種融合了質(zhì)譜和高強度等離子體源的所有優(yōu)勢后形成的高靈敏度分析技術。它在納米深度分辨率下信號的動態(tài)范圍可達到106，在深度剖析或基體分析時靈敏度可達到亞ppm級。分析過程中樣品的剝蝕濺射與離子化發(fā)生在輝光放電腔的不同位置，空間上的相互獨立可使基體效應最小化，并且通過內(nèi)部簡單的校準即可直接獲得半定量結果。 全質(zhì)譜覆蓋 飛行時間質(zhì)譜儀的優(yōu)勢是能夠連續(xù)記錄完整的質(zhì)譜數(shù)據(jù)，它每33微秒就可以記錄元素周期表中所有元素的全質(zhì)譜圖，任何元素都可以根據(jù)剝蝕時間/深度進行監(jiān)控。這不僅意味著您不僅可以毫無風險地檢測到任何元素隨深度的變化，而且還可以檢測到那些您意想不到的污染元素。 此外，所有的同位素都可以被檢測，這對于通過同位素標記研究同重元素干擾或是氧化、擴散機理的人員非常重要。
上海蒂勒實業(yè)有限公司是專業(yè)的科研儀器銷售與服務商。公司以“取之于科學，用之于科學”為理念，滿足客戶的個性化需求為導向，專業(yè)化服務和提供解決方案為特色。本公司的經(jīng)營范圍涉及航空航天、科研、制藥、半導體、太陽能、電力、新能源等行業(yè)，根據(jù)客戶的需求來提供產(chǎn)品選型，主要品牌有HORIBA、EDWARDS、MKS、BRUKER、VAT、WATERS、ANTON PAAR、CTI、SHIMADZU、METROHM、HACH等，通過多年的行業(yè)經(jīng)驗，龐大的技術團隊，專業(yè)提供科研設備領域的服務，以滿足客戶的個性化需求為導向，以專業(yè)化服務和提供解決方案為宗旨。上海蒂勒實業(yè)有限公司經(jīng)過多年的發(fā)展，自主設計方案在多種行業(yè)內(nèi)應用，結識了很多國內(nèi)外人員，能夠更好的了解客戶需求，滿足客戶需要，同時根據(jù)客戶的需求不斷進步，幫助客戶的同時，自身也能更快的進步，從客戶的角度的發(fā)展來理解客戶，使得我們提供的設計方案與時俱進，提高產(chǎn)品的使用頻率及延長產(chǎn)品的壽命。本公司始終以誠信，貼合，質(zhì)量，*，服務為宗旨，業(yè)務上精益求精，服務上與時俱進，力爭與客戶建立長期的合作關系，與客戶共同成長。
等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀（PP-TOFMS） 產(chǎn)品信息
