M4000 CCD全譜火花全譜直讀光譜儀,創(chuàng)新性地結(jié)合了國(guó)內(nèi)的光室密封氬氣循環(huán)技術(shù),可分析Fe、Al、Cu等多種基體。為爐前快速精確定量分析、金屬材料質(zhì)量監(jiān)控、科研院所研究開(kāi)發(fā)提供了解決方案。產(chǎn)品秉承精工于內(nèi)、大道至簡(jiǎn)的理念,致力于成為您金屬分析的助手。
◆冶金 ◆鑄造 ◆金屬加工 ◆金屬材料質(zhì)量鑒定 ◆新材料開(kāi)發(fā) ◆其他
智能可靠的全數(shù)字光源
可編程脈沖合成全數(shù)字光源,,免維護(hù)
適用于激發(fā)各種合金材料,有利于提高分析精度
方便節(jié)能的樣品激發(fā)臺(tái)
開(kāi)放式樣品激發(fā)臺(tái),內(nèi)部體積進(jìn)一步縮小,使得氬氣消耗更低
四路氬氣吹掃,可有效移除殘留粉塵,降低激發(fā)臺(tái)維護(hù)量
穩(wěn)定*的光學(xué)系統(tǒng)
帕型-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu),多個(gè)高性能的CCD探測(cè)器
可實(shí)時(shí)監(jiān)控的恒溫光室,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
個(gè)性化的樣品夾具
可適用于分析不同幾何形狀的大/小樣品
人性化的一鍵激發(fā)
樣品裝載激發(fā)一氣呵成,直接得到最終結(jié)果
適應(yīng)工廠檢測(cè)環(huán)境,有效提升工作效率
的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)
在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正,增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性
減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù),延長(zhǎng)校正周期
自動(dòng)完成儀器校正,操作更佳簡(jiǎn)便
產(chǎn)品特點(diǎn)
國(guó)內(nèi)光室密封氬氣循環(huán)技術(shù),降低氬氣消耗,有效節(jié)約生產(chǎn)成本
紫外分析環(huán)境相當(dāng)于真空光室10-3 Pa,優(yōu)化了短波元素的分析性能
*的CCD全譜接收技術(shù)
人性化的一鍵式激發(fā)
可分析Fe、Al、Cu等多種基體
可選型號(hào)
型號(hào) | 波長(zhǎng) | 范圍描述 |
M4000 N型 | 175-520nm | 可分析Fe、Al、Cu等基體 |
M4000 S型 | 200-520nm | 可分析Al、Cu等基體 |