NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)
針對大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測試分析系統(tǒng)
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效
NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測能力，實(shí)現(xiàn)更快的測量時(shí)間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，NPFLEXTM是個(gè)可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測能力，實(shí)現(xiàn)更快的測量時(shí)間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，NPFLEXTM是個(gè)可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。
其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
高效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效
為客戶量身訂做最合適的儀器配置 NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上，還有很多備選的配件和配置方案， 滿足不同客戶的測量需求： ? 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復(fù)性好。 ? 獲得研發(fā)大獎(jiǎng)的透過透明介質(zhì)測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結(jié)合環(huán)境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進(jìn)行加熱或者冷卻，進(jìn)行原位測量。 ? 可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。 納米級分辨率的三維表面信息測量 大家對很多樣品的表面性質(zhì)感興趣，但是要獲得這些品性質(zhì)，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天，汽車，醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進(jìn)行表征，獲得的只是一條線測量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理，在每一個(gè)測量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果，更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。 快速獲取數(shù)據(jù)，保證測試迅速高效 NPFLEX三維測量系統(tǒng)，能夠靈活高效的獲取大量測試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時(shí)間和測量方案設(shè)置時(shí)間
