X熒光光譜儀受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
X熒光分析儀儀器特點(diǎn)：
電制冷探測(cè)器，可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素，精度高、測(cè)量時(shí)間短，它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不銹鋼、合金等領(lǐng)域。
為了滿足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求，必須對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)過(guò)程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo)，大都配備了相應(yīng)的分析儀。
X熒光光譜儀分類：
X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長(zhǎng)色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。
以X熒光的波粒二象性中波長(zhǎng)特征為原理的稱為波長(zhǎng)色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。
X熒光光譜儀主要用途：
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以 測(cè)定元素含量。
近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
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