元素成份分析儀TDX8800E|金屬元素分析儀
發(fā)布時(shí)間:2020/06/21 點(diǎn)擊量:
產(chǎn)品特點(diǎn)
1. 采用的美國SDD(SILICON DRIFT DETECTOR)硅漂移探測(cè)器,分辨率更高, 大大提高了輕元素的檢出限,標(biāo)準(zhǔn)檢出限較SI-PIN探測(cè)器提高幾十倍;測(cè)量范圍更寬,基本涵蓋了各種常規(guī)材料元素分析要求;
2. 配置美國數(shù)據(jù)集成處理系統(tǒng),數(shù)據(jù)采集速度更快,測(cè)量更穩(wěn)定,重復(fù)性和長期穩(wěn)定性更好;
3. 配置新開發(fā)的專用測(cè)量軟件,集成多種圖形計(jì)算方法,測(cè)量數(shù)據(jù)更精準(zhǔn),更穩(wěn)定;
4. 軟件全面監(jiān)控儀器主要核心部件運(yùn)行狀態(tài),使用更安全;
5. 配置專門開發(fā)的真空系統(tǒng),真空性能更好,測(cè)試效果更佳;
技術(shù)參數(shù):
1. 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
2.. 元素含量分析范圍為1ppm到99.99%
3. 檢出限:1ppm
4. 測(cè)量時(shí)間:60-200秒(可調(diào))
5. 儀器工作電源:AC220±5V
6. 能量分辨率為129±5eV
7. X 射線光管輸出電流:1mA
8. 極限壓力:6.7×10-2 Pa
9.樣品腔尺寸:610*320*100(mm)(不抽真空)/Φ100*h75(mm) (真空樣品腔)
10.多次測(cè)量重復(fù)性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn)):±0.05%(高含量)/±0.002%(微量)
11.長期工作穩(wěn)定性(以標(biāo)準(zhǔn)樣品為準(zhǔn))±:0.06% (高含量)/±0.0025%(微量)