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Hitachi離子研磨儀 IM4000 Plus

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱似空科學(xué)儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號IM4000 Plu
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/11/7 16:19:28
  • 訪問次數(shù)201
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似空科學(xué)儀器(上海)有限公司是一家儀器設(shè)備的方案提供商,我們致力于為中國制造業(yè)和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供高性能、符合人體工學(xué)設(shè)計的儀器設(shè)備及解決方案。我們?yōu)榭蛻籼峁I(yè)的儀器進(jìn)口貿(mào)易服務(wù),同時可以根據(jù)客戶的設(shè)備應(yīng)用場景、生產(chǎn)和研發(fā)規(guī)劃,為客戶的儀器選型提供專業(yè)的咨詢。似空科學(xué)的技術(shù)團(tuán)隊也可以為客戶提供激光加工、電子控制、系統(tǒng)軟件或者特定失效分析儀器的定制開發(fā)。儀器設(shè)備發(fā)展的極限是探測手段和傳感器不對被測目標(biāo)產(chǎn)生任何干擾,企業(yè)管理的某種境界是一切以市場為核心,不以自我的意愿抗拒市場的趨勢,代替客戶的喜好,于是我們?nèi)∶八瓶铡?,希望以忘我的精神服?wù)客戶。我們夢想有朝一日,能夠充分掌握市場需求,深刻理解儀器設(shè)備的技術(shù)原理,聚集一批有激情、有理想、有技術(shù)的人,為中國的制造業(yè)升級以及中國科研走向世界水平,提供自有知識產(chǎn)權(quán)的*儀器設(shè)備!
簡要描述:IM4000PLUS是支持?jǐn)嗝嫜心ズ推矫嫜心ィ‵lat Milling®*1)的混合式離子研磨儀器。借此,可以用于適用于各種諸如對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察和各類分析等,為評價目的樣品的制作。
Hitachi離子研磨儀 IM4000 Plus 產(chǎn)品信息

特點

 

高通量的斷面研磨

配備斷面研磨能力達(dá)到500 µm/h*2以上的高效率離子槍。因此,即使是硬質(zhì)材料,也可以高效地制備出斷面樣品。

*2   在加速電壓6 kV下,將Si從遮擋板邊緣伸出100 µm并加工1小時時的深度

 

 

斷面研磨

● 即使是由硬度以及研磨速度不同的成分所構(gòu)成的復(fù)合材料,也可以制備出平滑的斷面樣品

● 優(yōu)化加工條件,減輕損傷

● 可裝載20 mm(W) × 12 mm(D) × 7 mm(H)的樣品

斷面研磨的主要用途

● 制備金屬以及復(fù)合材料、高分子材料等各種樣品的斷面

● 制備用于分析開裂和空洞等缺陷的斷面

● 制備評價、觀察和分析所用的沉積層界面以及結(jié)晶狀態(tài)的斷面

斷面研磨加工原理圖

 

平面研磨(Flat Milling®

均勻加工成直徑約為5mm的范圍

可運用于符合其目的的廣泛領(lǐng)域

可裝載直徑50 mm × 厚度25 mm的樣品

可選擇旋轉(zhuǎn)和擺動(±60度~±90度的翻轉(zhuǎn))2種加工方法

 

平面研磨(Flat Milling®)的主要用途

去除機(jī)械研磨中難以消除的細(xì)小劃痕和形變

去除樣品的表層

消除FIB加工的損傷

 

 

 

平面研磨(Flat Milling®)加工原理圖

 

與日立SEM的樣品結(jié)合

● 樣品無需從樣品臺取下,就可直接在SEM上進(jìn)行觀察。

● 在抽出式的日立SEM上,可按照不同的樣品分別設(shè)置截面、平面研磨桿,因此,在SEM上觀察之后,可根據(jù)需要進(jìn)行再加工。

 

 

 

功能

 

冷卻溫度調(diào)節(jié)功能*1

附冷卻溫度調(diào)節(jié)功能的IM4000PLUS
附冷卻溫度調(diào)節(jié)功能的IM4000PLUS

 

 

該功能可有效防止加工過程中,由于離子束照射引發(fā)的樣品的溫度上升,所導(dǎo)致樣品的溶解和變形。對于過度冷卻后會產(chǎn)生開裂的樣品,通過冷卻溫度調(diào)節(jié)功能可防止其因過度冷卻而產(chǎn)生開裂。

 

*1     此調(diào)節(jié)功能不是IM4000PLUS的標(biāo)配功能,而是配有冷卻溫度調(diào)節(jié)功能的IM4000PLUS功能。

 

樣品:鉛焊料

 

常溫研磨
常溫研磨

冷卻研磨
冷卻研磨

 

 

選項

 

大氣隔離樣品桿

大氣隔離樣品桿,可讓樣品在不接觸空氣的狀態(tài)下進(jìn)行研磨。
密封蓋將樣品密閉,進(jìn)入真空排氣的樣品室后,打開密封蓋。如此,離子研磨加工后的樣品可以在不接觸空氣的狀態(tài)下直接設(shè)置到SEM*1、FIB*1、AFM*2上。

*1    僅支持附帶大氣隔離樣品更換室的日立FE-SEM和FIB。

*2    僅支持真空型日立AFM。

 

鋰離子電池負(fù)極(充電后)

大氣暴露

大氣隔離

 

 

用于加工時觀察的立體顯微鏡

IM4000、IM4000PLUS通過設(shè)置在樣品室上方的立體顯微鏡,可觀察到研磨過程中的樣品。
如果是三目型,則可以通過CCD攝像頭*3進(jìn)行監(jiān)控觀察。

*3    CCD攝像頭以及監(jiān)控器由客戶準(zhǔn)備。

 

 

 

 

 
規(guī)格  

 

項目

內(nèi)容

IM4000PLUS

IM4000PLUS

斷面研磨桿

平面研磨桿

使用氣體

Ar(氬)氣

加速電壓

0 ~ 6 kV

研磨速度(Si材料)

500 µm/hr*1 以上

-

樣品尺寸

20(W)× 12(D)× 7(H)mm

Φ50 × 25(H) mm

離子束
間歇照射功能

標(biāo)配

尺寸 

616(W)× 705(D)× 312(H)mm

重量 

機(jī)體48 kg+回轉(zhuǎn)泵28 kg

附冷卻溫度調(diào)節(jié)功能的IM4000PLUS

冷卻溫度調(diào)節(jié)功能

通過液氮間接冷卻樣品、溫度設(shè)定范圍:0°C ~ -100°C

選項

空氣隔離
樣品夾持器

僅支持?jǐn)嗝嫜心A持器

-

FP版斷面研磨夾持器

100 µm/rotate*2

-

用于加工監(jiān)控的顯微鏡

倍率 15 × ~ 100 × 雙目型、三目型(支持CCD)

*1 將Si從遮擋板邊緣伸出100 µm并加工1小時的深度

*2 千分尺旋轉(zhuǎn)1圈時的遮擋板移動量。斷面研磨夾持器比為1/5

 

 

觀察示例

 

斷面研磨

如果是大約500 µm的角型的陶瓷電容器,則可以3小時內(nèi)制備出平滑的斷面。

樣品:陶瓷電容器

低倍圖像

放大圖像

即使硬度和成分不同的多層結(jié)構(gòu)材料,也可以制備斷面。

樣品:保險杠涂膜

低倍圖像

放大圖像

這是通過鋰電池正極材料,斷面研磨獲得平滑截面的應(yīng)用實例。
在SEM上觀察到的具有特殊對比度的部位,從SSRM(Scanning Spread Resistance Microscopy)圖像來看,考慮為電阻低的部位。

樣品:鋰離子電池正極材料 樣品制備方法:斷面研磨

 

平面研磨(Flat Milling)

可以去除機(jī)械研磨所引起的研磨損傷和塌邊,并可觀察到金屬層、合金層和無鉛焊料的Ag分布。

樣品:無鉛焊料

機(jī)械研磨后

平面研磨后

因老化等變得臟污的觀察面、分析面,通過平面研磨,也可以獲得清晰的通道對比度圖像和EBSD模式。

樣品:銅墊片

   

 

 

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