產(chǎn)品描述
高溫SEM原位納米壓痕儀——InSEM®HT高溫測(cè)試系統(tǒng)可在真空環(huán)境中對(duì)壓頭和樣品分別獨(dú)立進(jìn)行加熱,并與許多SEM/FIB工作室或獨(dú)立真空工作室兼容。系統(tǒng)溫度可高達(dá)800°C,因而可以模擬現(xiàn)場(chǎng)溫度條件,以獲得可靠一致的測(cè)試數(shù)據(jù)。鉬支架上的單晶碳化鎢壓頭經(jīng)過優(yōu)化,可用于高溫測(cè)試應(yīng)用,并可提供多種幾何形狀。
主要功能
· InForce 50驅(qū)動(dòng)器,壓頭可加熱,用于電容位移測(cè)量,并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
· 樣品可升溫至800°C,采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統(tǒng)
· InQuest高速控制器電子設(shè)備,具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
· 用于樣本定位的XYZ移動(dòng)系統(tǒng)
· SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行同步
· 的軟件集成壓頭校準(zhǔn)系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)快速,準(zhǔn)確的壓頭校準(zhǔn)
· 與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)的方法開發(fā)功能
主要應(yīng)用
· 高溫測(cè)試
· 硬度和模量測(cè)量(Oliver-Pharr)
· 連續(xù)剛度測(cè)量
· 高速材料性質(zhì)分布
· 蠕變測(cè)量
· 應(yīng)變率靈敏度
工業(yè)應(yīng)用
· 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
· 航空航天
· 汽車制造業(yè)
· 硬涂層
· 核能
· 軍事/國(guó)防