光致發(fā)光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發(fā)發(fā)光材料而產(chǎn)生的發(fā)光，在半導體材料的發(fā)光特性測量應用中通常是用激光（波長如325nm、532nm、785nm 等）激發(fā)材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）產(chǎn)生熒光，通過對其熒光光譜（即PL 譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發(fā)光可以提供有關材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。
傳統(tǒng)的顯微光致發(fā)光光譜儀都是采用標準的顯微鏡與熒光光譜儀的結(jié)合，但是傳統(tǒng)的顯微鏡在材料的PL 譜測量中，存在很大的局限性，比如無法靈活的選擇實驗所需的激光器（特別對于UV 波段的激光器，沒有足夠適用的配件），無法方便的與超低溫制冷機配合使用，采用光纖作為光收集裝置時耦合效率太低等等問題，都是采用標準顯微鏡難以回避的問題。
北京卓立漢光儀器有限公司結(jié)合了公司十余年熒光光譜儀和光譜系統(tǒng)的設計經(jīng)驗和普遍用戶的實際需求，推出了“Flex One( 微光）”系列顯微光致發(fā)光光譜儀，有效的解決了上述問題，是目前市場上高性價比的的顯微PL 光譜測量的解決方案。
■ 一體化的光學調(diào)校——整機設計，結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，光路穩(wěn)定，確保高效性和易用性
■ 簡單易用的雙樣品光路設計——可隨意在水平和垂直樣品光路上進行切換，適用于各種常見的樣品夾具
■ 超寬光譜范圍——200nm-2600nm
■ 視頻監(jiān)視光路——通過監(jiān)視器，查找微米級樣品，可供精確調(diào)整，定位測試樣品點
■ 多種激發(fā)波長可選——266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等
■ 自動mapping功能可選——50mm×50mm標準測量區(qū)間，可定制特殊規(guī)格，步進精度1μm
■ 熒光壽命測量功能可選——μs、ns、ps熒光壽命測量選項
■ 電致發(fā)光(EL)功能可選——擴展選項
■ 顯微拉曼光譜測量功能可選——擴展選項
■ 超低溫測量附件可選——可配置多種低溫樣品臺
*選配項，請詳細咨詢；
**需根據(jù)實際需要進行配置確定。
系統(tǒng)組成：
● 激發(fā)光源部分：紫外-近紅外波段各種波長激光器
● 顯微光路部分：優(yōu)化設計的專用型顯微光路
● 光譜采集部分：影像校正光譜和高靈敏型科學級CCD或單點探測器和數(shù)據(jù)采集器
● 樣品臺支架部分：xyz三維可調(diào)樣品臺（手動或自動）、超低溫樣品臺
參數(shù)規(guī)格表：
| 主型號 | Flex One | ||||||
| 光譜范圍 | 200-1000nm(200-2600nm) | ||||||
| 光譜分辨率 | ~0.1nm | ||||||
| 激發(fā)光可選波長 | 266nm，325nm，405nm，442nm，473nm，532nm，633nm，785nm等 | ||||||
| 探測器 | 類型 | 單點 PMT | 單點 PMT | 單點 InGaAs | CCD 1024×122 | InGaAs陣列 512×1 | InGaAs陣列 1024×255 |
| 有效范圍 | 200-900nm | 950-1700nm | 800-2600nm | 200-1000nm | 800-1700nm | 200-1000nm | |
| 空間分辨率 | <50μm | ||||||
| 注*：以上為參考規(guī)格，詳細規(guī)格依據(jù)不同配置的選擇會有差異，！ | |||||||
測量附件：
電致發(fā)光測試附件
Flex One 可升級電致發(fā)光測試，多樣化樣品臺、樣品架可滿足用戶各類測試需求。針對薄膜、片狀樣品電致發(fā)光，可在正面扎探針，采用長焦顯微物鏡或定制光纖棒收光；針對背電極樣品，可根據(jù)用戶電極分布情況定制樣品臺、樣品架。除電致發(fā)光測試外，亦可升級LBIC 光束誘導電流測試。
熒光壽命測試附件
Flex One 可升級瞬態(tài)熒光測試。用戶可根據(jù)不同測試需求選配不同的脈沖激發(fā)光源、探測器及數(shù)據(jù)采集器。我們可提供半導體激光器、固體激光器、OPO 激光器、超連續(xù)激光器以及光電倍增管、ICCD、條紋相機等探測器，滿足不同時間段的壽命測試。
| 脈沖激發(fā)光源 | 探測器 | |
| μs-ms | 半導體激光器/固體激光器 | 光電倍增管/ICCD |
| ns-μs | OPO激光器/皮秒激光器 | 光電倍增管/ICCD |
| ps-ns | 超連續(xù)激光器/飛秒激光器 | 光電倍增管/條紋相機 |
PL Mapping測試附件
Flex One 可以選配自動Mapping功能附件，標準選項為50×50mm 規(guī)格自動樣品臺，步距精度達1m，可定制100×100mm、150×150mm 等多種規(guī)格的樣品臺，用戶可根據(jù)樣品規(guī)格來設置掃描區(qū)域、掃描步長、掃描速度等，掃描速度*高可達到180點/ 秒，空間分辨率*高可達10m以下，掃描結(jié)果以3D 模式顯示。
在配置CCD 時，Mapping 掃描結(jié)果中：（1）可以保存每個掃描點的光譜信息；（2）用戶可以查看每個掃描點的光譜信息，進行光譜比較分析；（3）用戶可以進行峰值波長、熒光亮度等參數(shù)的Mapping 顯示，得到更多信息用于材料分析。
Flex One 可以選配高低溫測試設備做變溫PL 測試。我們可提供基于牛津儀器制冷機的全套升級方案，滿足客戶2.3K~500K 變溫顯微PL 測試。
