G200X納米壓痕儀
Nano Indenter G200X系統(tǒng),是G200納米壓痕儀的升級(jí)版本。這款納米級(jí)機(jī)械測(cè)試儀器兼具精準(zhǔn)、靈活、易于使用等優(yōu)點(diǎn)。G200X加入了高速控制電子元件,并且支持的InView軟件的升級(jí)界面,從而增強(qiáng)了KLA Nano Indenter G200系統(tǒng)的測(cè)量能力。G200X可測(cè)量楊氏模量和硬度,以及金屬薄膜的蠕變響應(yīng)(應(yīng)變率敏感性)。模塊化系統(tǒng)選件可適應(yīng)于多種應(yīng)用:特定頻率的測(cè)試,劃痕和磨損的定量測(cè)試,集成探頭成像,高溫測(cè)試和定制測(cè)試方案。更多優(yōu)點(diǎn),歡迎咨詢客服。