一、簡介：
FM-AR532/AR785是一臺整合了原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀的*設備，是兩者技術的結合。
可以分別利用原子力顯微鏡和拉曼光譜儀對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進行表征、分析，從而對樣品提供更加全面的信息。
這樣的集成，能讓用戶極大的提高工作效率，將更多的時間用于數據采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。
二、特點：
1、光機電算一體化設計。
2、內置復消色差光學系統(tǒng)，同時清楚看到探針針尖和拉曼激光光斑。3、不移動樣品可以從相同的點同時采集AFM和拉曼數據，原位檢測樣品的各種形貌信息與化學信息，這樣就確保了數據的一致性。
3、高通量的光信號收集和檢測硬件保證采集每一點的信號和拉曼光譜。
4、掃描探頭和激光耦合器集成一體，懸掛式防震，抗力強。
三、應用：
納米科技、物理、化學、藥物學、材料科學、半導體研究、晶體研究、薄膜與聚合物研究、礦物學、地質學、分析科學等。
技術參數
原子力顯微鏡：
| 工作模式 | 接觸模式、輕敲模式，（可選配摩擦力、相位、磁力或靜電力） |
| 樣品尺寸 | Φ≤90mm，H≤20mm |
| 掃描范圍 | XY向50um，Z向5um，（可選配XY向20um，Z向2um） |
| 樣品移動范圍 | ±10mm |
| 掃描分辨率 | XY向0.2nm，Z向0.05nm |
| 圖像采樣點 | 256×256，512×512 |
| 光學放大倍數 | 復消色差物鏡10X（可選配20X） |
| 光學分辨率 | 1um |
| 掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz |
| 掃描角度 | 0~360° |
| 掃描控制 | XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A |
| 數據采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 |
| 反饋方式 | DSP數字反饋 |
| 計算機接口 | USB2.0 |
| 運行環(huán)境 | 運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統(tǒng) |
拉曼光譜儀：
| FM-AR532 | FM-AR785 | |
| 激光波長 | 532±0.05nm | 785±0.05nm |
| 激光連續(xù)輸出功率 | ＞500Mw(50-600mW連續(xù)可調) | |
| 激光波長穩(wěn)定性 | ＜0.05nm | |
| 激光功率穩(wěn)定性 | ＜2%（兩小時內） | |
| 激光器壽命 | ＞10000小時 | |
| 拉曼漂移范圍 | 50-4000cmˉ¹ | |
| 光譜分辨率 | ＜3cmˉ¹ | |
| 動態(tài)范圍 | 8000:1 | |
| 積分時間 | 17毫秒-100秒 | |
| 線性度 | ＞99.8% | |
| 數據傳輸速率 | *傳輸到內存，使用USB2.0每次7毫秒 | |
| 操作系統(tǒng) | WindowsXP /7 /8 | |
| 自動尋峰 | 支持 | |
| 拉曼數據庫 | 3000多種常見數據（選配），支持升級 | |
| 開發(fā)式拉曼數據庫 | 支持 | |
| 拉曼數據導入導出 | 支持 | |
| 分析軟件 | Raman Analysis 2 | |
