我公司推出OLED光譜性能測試系統(tǒng)，OLED發(fā)射光譜測量系統(tǒng)，OLED光譜分析儀，OLED光電性能測試系統(tǒng)（IVL曲線，外量子效率EQE），OLED載流子遷移率測量系統(tǒng)、光電性能評估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng)，為廣大科研工作者和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供了有效的測試工具。
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應(yīng)用：
有機(jī)發(fā)光器件OLED
量子點(diǎn)LED
鈣鈦礦LED等
主要測試功能：
OLED效率測量/EQE測量，功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A；
發(fā)射角度-光譜測量；
光譜&顏色測量@發(fā)射角；
CIE xyY和顯色指數(shù)CRI；
可視角測量；
IVL(電流—電壓—亮度)測量；
PL光致發(fā)光和EL電致發(fā)光測量；
p，s極性測量；
主要技術(shù)規(guī)格：
角度范圍：-85°~+85°；
光譜范圍：360nm~880nm，分辨率1.2nm;
