概要
GD-Profiler 2™提供了快速、同時分析所有感興趣的元素，包括氮、氧、氫和氯。是薄膜描述和工藝研究的理想工具。
配有RF光源，可以在脈沖模式下檢測易碎的樣品，GD-Profiler 2™的應(yīng)用范圍從對腐蝕的研究到PVD涂層的工藝控制，在大學(xué)被廣泛用于常規(guī)的金屬和合金產(chǎn)品的研究。
特征
RF射頻發(fā)生器- 標(biāo)準(zhǔn)配置，符合E級標(biāo)準(zhǔn)，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩(wěn)定時間極短，表面信息無任何失真。
脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導(dǎo)性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
多道(同時)型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外，可分析C, H, O, N, Cl
HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有大光通量，因而有高的光效率和靈敏度
HDD® 檢測器可進(jìn)行快速而高靈敏的檢測，動態(tài)范圍達(dá)到10個量級
寬大的樣品室方便各類樣品的加載
功能強大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報告
激光指點器(CenterLite laser pointer，申請中)可用于加載樣品
HORIBA Jobin Yvon單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素
產(chǎn)品相關(guān)圖及其它
樣本
樣本
