儀器原理：
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點，將來自試樣的熒光X射線依次檢測，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖，經放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統計脈沖數，脈沖幅度可以用X光子的能量標度，從而得到計數率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖。
產品特點：
1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器，分辨率高，探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2. 配置國際的DPP數字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能更佳，尤其在高計數率時有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間更短，測量重復性和長期穩(wěn)定性更好。
3. 內置高清攝像系統，清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區(qū)域。
4. 配套的FP測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結果
編 號 | 產 品 規(guī) 格 |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 |
分析元素 | 元素分析范圍硫（S）-鈾（U）任意元素 可分析銅合金、鐵合金、鋅合金、錫鉛合金、貴金屬分析等。 定量測試ROHS和鹵素中的 鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻(Cr)、多溴聯苯（PBB）和多溴聯苯醚（PBDE）中的總溴,鹵素中的溴(Br)、氯（Cl）。 可以分析最多5層鍍層，一次可分析元素多達24種 |
工作條件 | 工作溫度：18-22℃ |
| 相對濕度：40%-60% |
| 電 源：AC 220 V±10 %、50/60 Hz |
| 測定條件：大氣環(huán)境 |
