性能指標(biāo)
- 光譜范圍： 7800-450 cm-1 ；
- 像素單元 6.2 5/25/50μm ；
- 信噪比 單點(diǎn)模式優(yōu)于25000:1（25μm） ；
- 掃描速度 160張譜圖/秒 ；
- 紅外成像速度 1.2*1.2mm區(qū)域，≤20秒 ；
- 附件 顯微ATR附件，金剛石壓池 ；
- 檢測(cè)器 DTGS室溫檢測(cè)器、液氮冷卻MCT檢測(cè)器以及液氮冷卻MX陣列檢測(cè)器 。
主要應(yīng)用
- 可用于樣品的無(wú)損檢測(cè) ；
- 污染物、異物、微區(qū)紅外分析 ；
- 失效分析、故障分析 、 電子材料 、文物保護(hù)領(lǐng)域 、 涂層、包裝和層壓材料 、有機(jī)樣品、無(wú)機(jī)樣品和高分子材料等的鑒定以及混合物分布圖 、物證鑒定、環(huán)境檢測(cè)、商檢等領(lǐng)域 、應(yīng)用于醫(yī)藥、農(nóng)藥、精細(xì)化工、環(huán)境、紡織、檢測(cè)、礦物、等各領(lǐng)域 。
樣品要求
- 樣品盡量干燥，固體或凍干粉樣品，避免水的羥基峰對(duì)其他官能團(tuán)紅外峰的影響
- 來(lái)樣請(qǐng)注明樣品保存條件（干燥、冷凍、冷藏、避光或其他） ? 貴重樣品、強(qiáng)酸、強(qiáng)堿、有毒、放射性樣品、容易變質(zhì)、損壞樣品請(qǐng)事先說(shuō)明，必要時(shí)注明保存條件。
- 與研磨反應(yīng)樣品要事先告知。
- 研磨或者接觸空氣變質(zhì)樣品要事先告知。
- 特殊要求請(qǐng)?jiān)跇悠返怯浬献⒚?，否則按正常測(cè)試處理；由于樣品處理不當(dāng)（殘存溶劑、雜質(zhì)較多、混合成分）等，造成譜圖質(zhì)量不高，若重新測(cè)試該樣品時(shí)，則按新的樣品受理。 ? 送檢樣品應(yīng)該滿足分析測(cè)試要求，需要制樣的，根據(jù)制樣的難易程度，酌情收取樣品處理費(fèi)。
- 送樣時(shí)間：周一～周五，不穩(wěn)定樣品或自主操作請(qǐng)?zhí)崆?~2天預(yù)約，未按時(shí)前來(lái)測(cè)試，則按自動(dòng)放棄預(yù)約處理（收費(fèi)）。
- 實(shí)驗(yàn)原始數(shù)據(jù)*.SPA或者可用Ominc軟件打開(kāi)，數(shù)據(jù)點(diǎn)格式文件*.csv可以用excel或者origin軟件進(jìn)行作圖。
儀器說(shuō)明
顯微紅外光譜儀實(shí)現(xiàn)了紅外顯微鏡與傅里葉紅外光譜儀相結(jié)合而形成的一種顯微分析技術(shù)。而且對(duì)顯微紅外來(lái)說(shuō)，具有不破壞樣品，對(duì)樣品大小，形狀要求不高，不規(guī)則形狀樣品也可以進(jìn)行測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)；
檢測(cè)靈敏度高，可達(dá)到納克級(jí)別（ng），測(cè)量區(qū)域小，可到微米級(jí)（5um）；可對(duì)樣品進(jìn)行面掃描，線掃描，并對(duì)材料紅外光譜成像和分析等。
高通量的FTIR光束被高精度地聚焦在樣品微小的面積上，獲得可用于分析的紅外光譜。該技術(shù)靈敏度高，使用極少量樣品就可得到的紅外光譜圖，檢測(cè)限可達(dá)1ng，有時(shí)達(dá)pg數(shù)量級(jí)； 可不破壞樣品，直接對(duì)微小樣品或不均勻樣品的微區(qū)進(jìn)行分析；
對(duì)高聚物的二向色性研究有*的優(yōu)點(diǎn)，可用于測(cè)量復(fù)合薄膜、研究單根纖維或微區(qū)的拉伸取向； 在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、礦物學(xué)、材料科學(xué)、法庭科學(xué)等領(lǐng)域中都有重要應(yīng)用。
該儀器已對(duì)交大生命學(xué)院、藥學(xué)院、化工學(xué)院、環(huán)境學(xué)院、材料學(xué)院及多家校外企事業(yè)單位提供了測(cè)試服務(wù)。
該儀器在分析微小、不規(guī)則、復(fù)雜樣品上的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，使該儀器在失效分析、復(fù)雜樣品分析上取得了豐碩的成果。
空間分辨率，10微米的顆粒可測(cè)量 ? 超高信噪比，1秒可得譜圖 ；Ultra-Fast mapping（1.2*1.2mm只需4.5min）；
線/面掃描既可查看單點(diǎn)譜圖，又可查看整個(gè)區(qū)域的化學(xué)成像。
