CTLD-100型
LiF:Mg,Ti熱釋光探測器
LiF:Mg,Ti探測器探測器具有衰退小、精確度高、量程范圍寬、組織等效性和能量響應(yīng)好等特點(diǎn)，可測 Ｘ、γ、β 等射線，在核工業(yè)、醫(yī)療衛(wèi)生系統(tǒng)、地質(zhì)找礦和石油勘探等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。
主要?jiǎng)┝繉W(xué)持性
1、發(fā)光曲線：LiF;Mg,Ti探測器在300℃以下具有6個(gè)發(fā)光峰，一般將第5個(gè)峰作為劑量測定峰，峰值溫度為210℃左右。
2、衰退：≤5.6%/年（在常溫下儲(chǔ)存）；
3、均 勻 性: ≤±5%（和探測器的分散性有關(guān)）
3、線性范圍：10-4～3Gy；
4、重復(fù)性：LiF:Mg,Ti探測器的重復(fù)性符合國標(biāo)(GBl0264—88)要求，其重復(fù)使用性能隨使用次數(shù)的增加趨于更加穩(wěn)定，一般均在上百次以上；
5、長期穩(wěn)定性：在環(huán)境溫度低于40℃的環(huán)境下，累積劑量信息的衰退在3-6個(gè)月內(nèi)可以忽賂不計(jì)，若環(huán)境溫度≥50℃時(shí)，則其劑量信息的衰退約為（3-5）％/月。
6、能量響應(yīng)：1.30（對30keV Ｘ射線與60Co γ射線的響應(yīng)比）；
7、光照效應(yīng)：對于室內(nèi)散射日光、白熾燈光、日光燈無明顯響應(yīng)，對于直射陽光照射則有明顯響應(yīng)。
使用條件
探測器可采用熱風(fēng)加熱式讀出器測量，也可采用直接電加熱式(電阻帶式加熱盤)讀出器測量；
退火：400℃,l小時(shí)、迅速冷卻后100℃，2小時(shí)退火；
測量：對于直接電加熱式讀出器，其測量條件加熱方式、參數(shù)等因素有關(guān)，直接電加熱式讀出器測量參數(shù)見下表。
直接電加熱式讀出器測量參數(shù)
測量方式 | 預(yù) 熱 | 測 量 | 加熱速率 (℃?s-1) | 備 注 | ||
溫度(℃) | 時(shí)間(s) | 溫度(℃) | 時(shí)間(s) | |||
線性 | - | - | 400 | 400 | 1 | 測 量 TL曲線 |
- | - | 400 | 200 | 2 | ||
兩階段程序 | 140 | 20 | 240 | 15-20 | 20 | |
一階段程序 | - | - | 240 | 15-20 | 20 | 測前低 溫退火 |
- | - | 270 | 15-20 | 20 | ||
表中參數(shù)僅供參考，建議用戶根據(jù)具體情況確定，其確定原則是使劑量測定峰*落在測量周期(測量上升和恒溫時(shí)間)內(nèi)，而測量周期要盡可能的短。
表中時(shí)間參數(shù)為上升、恒溫時(shí)間。
使用注意事項(xiàng)
1、探測器要存放在環(huán)境溫度、干燥（干燥瓶）的環(huán)境條件下保存，避免陽光直射、有機(jī)氣氛的影響；
2、探測器退火時(shí)要嚴(yán)格控制退火條件，如有條件應(yīng)采用專用探測器退火冷卻爐，以保證探測器的性能；
3、采用直接電加熱式讀出器測量時(shí)，可在玻管探測器加熱盤兩端開兩個(gè)孔，以保證探測器和加熱盤有良好的熱接觸。
4、退火時(shí)，應(yīng)在溫度達(dá)到設(shè)置的溫度后，再將裝有探測器的托盤放入退火爐中，放入托盤后爐溫會(huì)略有下降，當(dāng)其溫度達(dá)到設(shè)置的溫度時(shí)開始計(jì)時(shí)；
5、探測器從爐中取出后，要放在冷卻冷卻板上冷卻（在濕度比較大時(shí)，冷卻時(shí)間不宜過長，以防受潮，一般控制在10幾秒）；
6、測量后應(yīng)將探測器放在金屬盒里或金屬板上；
7、要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器，以免沾污。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)剔除，切勿用酒精棉球擦洗再用，清洗后可在以后探測器篩選時(shí)使用；
8、探測器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；
9、放置探測器的器具要保持清潔，要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器；
10、探測器在照射后和經(jīng)過熱處理后放在專用的熱釋光探測器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。
