旋轉(zhuǎn)管材檢測(cè)系統(tǒng)（RTIS）是一個(gè)將相控陣探頭集成到全自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的交鑰匙解決方案，可以滿足客戶針對(duì)管材的體積檢測(cè)和表面檢測(cè)所提出的非常嚴(yán)格的要求。主要優(yōu)點(diǎn)：
自動(dòng)校準(zhǔn)功能 減少了對(duì)操作人員技能的依賴
通過(guò)校準(zhǔn)核查， 可以生產(chǎn)速度探測(cè)到缺陷
主要石油公司都 熟悉這個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)
對(duì)斜向缺陷的探測(cè)，符合當(dāng)前存在的和待定的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
通過(guò)2維成像和管端檢測(cè)能力，充分發(fā)揮系統(tǒng)的檢測(cè)性能
RTIS檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)目的是為了確保無(wú)縫管材和電阻焊管材具有合格的質(zhì)量，而提供一種使用方便的解決方案。RTIS系統(tǒng)包含以下項(xiàng)目：
專門(mén)的項(xiàng)目管理
儀器、探頭和機(jī)械設(shè)備
水管理系統(tǒng)
軟件
調(diào)試、培訓(xùn)與售后支持
全管體檢測(cè)
檢測(cè)縱向、橫向、斜向和分層缺陷，并測(cè)量管壁的厚度。
新穎*的水楔可以隨著管材的移動(dòng)而多角度自由轉(zhuǎn)動(dòng)，從而可以提供優(yōu)質(zhì)的耦合效果
只在管材的端部留有很小的未檢測(cè)區(qū)域（盲區(qū)）
自動(dòng)校準(zhǔn)后，可以獲得重復(fù)性很高的結(jié)果
對(duì)于較小的參考缺陷，具有很高的靈敏度，信噪比大于12 dB
可用于滿足檢測(cè)規(guī)范中的要求（API-5CT和API-5L）
縱向
橫向
斜向
提高生產(chǎn)力
RTIS系統(tǒng)具有很強(qiáng)的適應(yīng)性，經(jīng)過(guò)配置可適用于不同類型的檢測(cè)。
可以調(diào)配檢測(cè)頭和電子器件的數(shù)量，以達(dá)到所需的生產(chǎn)力水平
可以Z多同時(shí)觸發(fā)每個(gè)相控陣探頭上的4個(gè)孔徑
較大的機(jī)械掃查重疊區(qū)域，每旋轉(zhuǎn)一次的重疊區(qū)域高達(dá)120 mm
自動(dòng)校準(zhǔn)
為了對(duì)管材進(jìn)行全面性的檢測(cè)，必須對(duì)每個(gè)相控陣（PA）探頭進(jìn)行校準(zhǔn)。在校準(zhǔn)探頭的過(guò)程中，每個(gè)探頭的各個(gè)孔徑都要掃查一個(gè)已知缺陷，然后探頭的增益水平得到自動(dòng)調(diào)整。自動(dòng)校準(zhǔn)功能可使用戶方便地為每個(gè)聚焦法則進(jìn)行精確的校準(zhǔn)，并驗(yàn)證校準(zhǔn)，從而節(jié)省了很多時(shí)間，而且不需要依賴操作人員的操作技能。
在一個(gè)單一自動(dòng)序列中可對(duì)所有探頭進(jìn)行校準(zhǔn)
在正常的生產(chǎn)條件下完成校準(zhǔn)核查
需要對(duì)每個(gè)參考缺陷進(jìn)行核查，以確保當(dāng)所有這些缺陷超出了報(bào)警水平時(shí)，都會(huì)被探測(cè)到
檢測(cè)結(jié)果被顯示在方便解讀的帶狀圖和焊縫成像視圖中
| 標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品的范圍 | 直徑 | 60 mm ～ 508 mm |
|---|---|---|
| 壁厚 | 4 mm ～ 75 mm | |
| 壁厚/外壁 | < 0.3 | |
| 長(zhǎng)度 | 6 m ～ 15 m | |
| 速度 | 60.3 mm：1 m/s 244.4 mm：0.25 m/s 406.4 mm：0.15 m/s | |
| 檢測(cè)覆蓋范圍 | 軸向脈沖密度（APD） | 可配置（0 ～ > 50%的重疊區(qū)域） |
| 徑向脈沖密度 | 可配置（1.0 mm ～ 2.0 mm） | |
| 數(shù)據(jù)視圖 | 實(shí)時(shí)檢測(cè)結(jié)果 | C掃描、帶狀圖和報(bào)警 |
| 參數(shù)設(shè)置 | A掃描、B掃描 | |
| 檢測(cè)布局 | 可由用戶自行配置的20個(gè)不同的布局 | |
| 檢測(cè)模式 | 典型的檢測(cè)模式 | 縱向、橫向、斜向、分層缺陷和壁厚測(cè)量 |
| 發(fā)射模式 | 脈沖回波 | |
| 檢測(cè)模式的配置 | 可以為同一個(gè)相控陣（PA）探頭同時(shí)配置多個(gè)不同的檢測(cè)模式。 | |
| 典型參考缺陷的探測(cè)能力 | API參考缺陷 | 12.7 mm/25.4 mm N10和N5，內(nèi)壁和外壁縱向、橫向及斜向刻槽； 3.2 mm和1.6 mm穿透孔（TDH），6.35 mm平底孔（FBH） |
| 信噪比（SNR） | > 12 dB | |
| 重復(fù)性 | 縱向刻槽：< 2 dB 橫向和斜向刻槽： < 3 dB 3.2 mm穿透孔和6.35 mm平底孔：< 4 dB | |
| 報(bào)告和數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 報(bào)告類型 | 可由用戶配置的檢測(cè)、校準(zhǔn)及校準(zhǔn)核查報(bào)告 |
| 存儲(chǔ) | 將檢測(cè)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)到數(shù)據(jù)庫(kù) |
