儀器名稱： | X射線衍射儀(XRD) | 型號(hào)： | D8 ADVANCE and DAVINCI DESIGN |
檢測(cè)項(xiàng)目： | 廣角衍射，小角衍射，薄膜衍射，從小角到廣角，掠入射，物相半定量，變溫XRD | ||
設(shè)備性能： | 小角衍射最小角可以達(dá)到0.4度，主要測(cè)量介孔材料和其他高分子復(fù)合材料。廣角衍射：角度可以達(dá)到5度，可以精確接收到小于10度的衍射峰； (1)測(cè)量精度：角度重現(xiàn)性±0.0001°;測(cè)角儀半徑≥200mm，測(cè)角圓直徑可連續(xù)變 (2)最小步長(zhǎng)0.0001°;角度范圍(2θ)：-110～168°;溫度范圍：室溫～900℃; (3)輸出：3KW;穩(wěn)定性：±0.01%;管電壓：20～60kV(1kV/1step);管電流：10～60mA。 | ||
應(yīng)用范圍： | 物相分析，可以對(duì)物質(zhì)的組成及物相進(jìn)行表征分析； 定性、定量分析，通過精修可對(duì)物質(zhì)的各組分進(jìn)行精確的定量分析； 高溫原位分析，通過高溫原位可以研究溫度對(duì)物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。 | ||
制樣要求： | 固體粉末：均勻干燥，粒度小于70um(過200目)，質(zhì)量不少于100 mg; 塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出平整的表面，長(zhǎng)寬都為1.5-1.7厘米 厚度小于5毫米。 高溫XRD樣品的測(cè)試溫度要低于熔點(diǎn)（參考熱重測(cè)試數(shù)據(jù)）。 | ||
PS：送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。
測(cè)試提示：
1.可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票，附帶測(cè)試清單。
2.有腐蝕性，毒性，或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員，測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷，測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化；
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料，包括元素，主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論，商定最終測(cè)試條件；
4.測(cè)試人員與顧客通過或郵件溝通，出現(xiàn)測(cè)試糾紛，郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù)；請(qǐng)加和技術(shù)人員交流：。
5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品，一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
