HP-CHY-LD鍍鋁膜測厚儀適用于各種鍍鋁膜鋁層厚度的檢測,包括食品煙草軟包裝鋁膜、渦流鍍層、蒸發(fā)鋁膜、微薄金屬膜、硅片蒸鋁層、 聲表面波鋁膜、 半導體鋁膜、 車燈鋁膜、塑料薄膜鋁膜等,該機現(xiàn)為觸摸屏操作,性能穩(wěn)定、測量準確、重現(xiàn)性好、經濟耐用,符合國家標準GB/T4957。適合非平面的測量,探頭可移動。
工作原理:
鋁膜測試儀利用渦流原理制造,即被測蒸鋁層靠近高頻激磁磁場時,感應產生渦電流,因而產生渦流磁場,此渦流磁場反作用于原來激磁磁場,阻抗發(fā)生變化,然后通過檢測電路并進行放大,輸出與厚度相對應模擬電壓。為了減少漂移即減少重復性誤差和提高測量準確度,本儀器應用智能功能單片機系統(tǒng),即對測厚過程中非線性和零漂進行校正,因而提高了測量準確度。
技術參數(shù):
可測量直徑范圍: 測量直徑不小于6MM
量程范圍: 0-2000埃
分辨率: 1埃
測量準確度: ≤±3%(F.S)
儀器尺寸:400x320 x 120 mm
重 量 :7公斤
鍍鋁膜測厚儀配置:
鍍鋁膜測厚儀壹臺,校正片一片,電纜線一根。