齊齊哈爾漆膜測(cè)厚儀價(jià)格MC-2000C磁性鍍鋅層測(cè)厚儀很好用產(chǎn)品簡(jiǎn)介
MC-2000C型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀），是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平。
齊齊哈爾漆膜測(cè)厚儀價(jià)格MC-2000C磁性鍍鋅層測(cè)厚儀很好用應(yīng)用范圍
涂層測(cè)厚儀儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
MC-2000C涂層測(cè)厚儀工作原理
MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭
產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。
MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)
輕松讀取：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。
二、MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍： 0～5000um
2、測(cè)量誤差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量： 單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
(3).讀： 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)
(4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
(5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)
(6).電量： 具有欠壓顯示功能
(7).打印： 可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源： 兩節(jié)1.5v電池
7、功耗： zui大功耗100mw
8、外形盡寸： 51mm*126mm*27mm
9、重量： 160g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度： 0℃～+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑： 7mm
13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示： 右上角顯示＂＂
*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度
三、MC-2000C型涂層測(cè)厚儀配置單
MC-2000C說(shuō)明書下載
1、MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀 一臺(tái)
2、七號(hào)電池 二節(jié)
3、探頭 一支
4、標(biāo)準(zhǔn)樣片 一盒
5、小鋁箱 一個(gè)
6、說(shuō)明書、合格證 一套
選配件：
1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套
2、微機(jī)通訊軟件 1盤
- 內(nèi)防腐探頭
注意事項(xiàng)：
（１）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。
（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。
五、影響測(cè)量的若干因素：
基體金屬磁化：磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上 對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。
基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
曲率：試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
表面粗糙度：基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。
磁場(chǎng)：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。
附著物質(zhì)：本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。
探頭的放置：探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。
試片的變形：探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
讀數(shù)次數(shù)：通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
