MC-2000C涂層測(cè)厚儀管道測(cè)厚儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
輕松讀?。?/span>可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)。
1、測(cè)量范圍：
MC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um
MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um
MC-2000 D 型測(cè)量范圍：10-9000um
可訂做管道內(nèi)涂（鍍）層測(cè)頭，30mm管徑以上
MC-2000C涂層測(cè)厚儀管道測(cè)厚儀
MC-2000C型涂鍍層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭
產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。
2、測(cè)量誤差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
二、MC-2000C涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍： 0～5000um
2、測(cè)量誤差： <3%±1um
3、zui小示值： 1um
4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量： 單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)、刪除： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
(3).讀： 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)
(4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
(5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)
(6).電量： 具有欠壓顯示功能
(7).打?。?可打印測(cè)量值，選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源： 兩節(jié)1.5v電池
7、功耗： zui大功耗100mw
8、外形盡寸： 51mm*126mm*27mm
9、重量： 160g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度： 0℃～+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體zui小厚度： 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑： 7mm
13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示： 右上角顯示＂＂
*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度
高精度涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鉻、鋅、銅、鋁、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 ◆磁性法(f型測(cè)頭)：當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。 ◆渦流法(n型測(cè)頭)：利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
高精度涂層測(cè)厚儀（多用型）是一種多功能實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。
的使用方法
使用涂層測(cè)厚儀時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定：
a基體金屬特性對(duì)于磁性方法，規(guī)范片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，規(guī)范片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b基體金屬厚度檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c邊緣效應(yīng)不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d曲率不應(yīng)在試件的彎曲外表上測(cè)量。
e讀數(shù)次數(shù)通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必需在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。
覆蓋層厚度的局部差別，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，外表粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f外表清潔度丈量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
