leeb451袖珍式粗糙度儀表面粗糙度儀/表面光潔度儀/粗糙度測試儀/測量儀

   leeb451袖珍式粗糙度儀表面粗糙度儀/表面光潔度儀/粗糙度測試儀/測量儀適用于生產(chǎn)現(xiàn)場，可測量多種機加工零件的表面粗糙度，根據(jù)選定的測量條件計算機相應(yīng)的參數(shù)，在液晶顯示器上清晰地顯示全部測量結(jié)果。
  袖珍表面粗糙度儀是于測量被加工零件表面粗糙度的新型智能化儀器。該儀器集當(dāng)今微處理器技術(shù)和傳感技術(shù)于一體，以*的微處理器和優(yōu)選的高度集成化的電路設(shè)計，構(gòu)成適應(yīng)當(dāng)今儀器發(fā)展趨勢的超小型的體系結(jié)構(gòu)，可以完成粗糙度參數(shù)的采集、處理和顯示工作。
  適用于加工業(yè)、制造業(yè)、檢測、商檢等部門，尤其適用于大型工件及生產(chǎn)流水線的現(xiàn)場檢驗，以及檢測、計量、商檢等部門的外出檢定。

技術(shù)參數(shù)
測量參數(shù)：Ra、Rz、Rq、Rt
測量范圍:Ra:0.05-10.0μm
測量范圍:Ra:0.05-10.0μm；  Rz:0.1-50μm
取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm；
評定長度:1.25mm、4mm、5mm
掃描長度:6mm
示值誤差:≤±15％
示值變動性:＜12％
傳感器類型:壓電晶體
電源:3.7V鋰離子電池
工作溫度:0oC- 40oC
重量:200g
外型尺寸:106×70×24mm

 參數(shù)定義：

參數(shù) 定義 執(zhí)行標(biāo)準 說明 
Ra  算術(shù)平均偏差 ISO4287：1998  
 
Rq 均方根偏差 ISO4287：1998  
 
Rz 輪廓zui大高度 ISO4287：1998 等于舊Ry 
Rz（JIS） 十點高度平均值 ISO4287/1：1984 舊Rz 
Rmax 輪廓zui大高度 DIN4768：1990  
 
Rp zui大輪廓峰高 ISO4287：1998  
 
Rv zui大輪廓谷深 ISO4287：1998  
 

參數(shù) 定義 執(zhí)行標(biāo)準 說明 
Rp（ASME） zui大輪廓峰高 ASME B46  
 
Rp（ASME） 平均輪廓峰高 ASME B46  
 
Rt 輪廓總高度 ISO4287：1998  
 
R3z 第三峰谷高度算術(shù)平均值  
  
 
RPc 峰計數(shù) ASME B46  
 
Rmr 輪廓長度支承率 ISO4287：1998  
 
RSm 輪廓單峰平均間距 ISO4287：1998  
 

參數(shù) 定義 執(zhí)行標(biāo)準 說明 
A1 材料填充輪廓峰頂區(qū)域 ISO13565-2：1998  
 
A2 潤滑劑填充輪廓谷底區(qū)域 ISO13565-2：1998  
 
Vo 油劑保留量  
  
 
R 粗糙度圖形的平均深度 ISO12085：1996  
 
Ar 粗糙度圖形的平均寬度 ISO12085：1996  
 
Rx 粗糙度不規(guī)則度的zui大深度 ISO12085：1996