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AtomTrace 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀

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公司名稱上海凱來(lái)儀器有限公司
品牌
型號(hào)Sci-Trace
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/11/17 8:37:30
訪問(wèn)次數(shù)279

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

分析儀器細(xì)分市場(chǎng)的隱形——上海凱來(lái)儀器有限公司上海凱來(lái)成立于2004年，起始于專業(yè)代理分析儀器，定位為專業(yè)技術(shù)服務(wù)商，聚焦專業(yè)細(xì)分市場(chǎng)，目前已經(jīng)成為多個(gè)領(lǐng)域的。上海凱來(lái)總部位于上海臨港新片區(qū)海洋科技創(chuàng)業(yè)園，設(shè)有應(yīng)用演示及服務(wù)實(shí)驗(yàn)室，客戶定制產(chǎn)品及研發(fā)中心。目前在全國(guó)多個(gè)城市設(shè)有辦事處，并處于快速擴(kuò)展中！公司文化：“只有精英才能生存”。目前專業(yè)代理元素分析相關(guān)類產(chǎn)品線：（美國(guó)）Exum：激光剝蝕激光電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（LALI-TOFMASS）（瑞士）托服工坊/TOFWERK：電感耦合等離子體飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（美國(guó)）ESL：激光剝蝕/激光熔融/微區(qū)取樣技術(shù)系列解決方案（捷克）亞當(dāng)爵士/AtomTrace：激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）（美國(guó)）ESI：Elemental Scientific ICP/ICPMS液體進(jìn)樣技術(shù)系列解決方案（澳大利亞）XRF：XRF Scientific X熒光分析前處理熔樣分析技術(shù)解決方案目前可以開(kāi)展的技術(shù)演示培訓(xùn)服務(wù)項(xiàng)目：激光剝蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)專用色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)X熒光融樣技術(shù)專項(xiàng)測(cè)試服務(wù)目前包括：地質(zhì)定年服務(wù)（激光剝蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜法）地質(zhì)元素和生物成像服務(wù)（激光剝蝕-電感耦合等離子體飛行時(shí)間質(zhì)譜法）單細(xì)胞及納米顆粒分析（激光剝蝕-電感耦合等離子體飛行時(shí)間質(zhì)譜法）海水測(cè)試服務(wù)（色譜-電感耦合等離子體法）客戶定制研發(fā)激光剝蝕質(zhì)譜聯(lián)用相關(guān)技術(shù)研發(fā)樣品前處理配套附件技術(shù)研發(fā)專項(xiàng)科學(xué)儀器合作研發(fā)

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激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

AtomTrace的Sci-Trace多元素化學(xué)分析系統(tǒng)利用當(dāng)今前景的分析技術(shù)之一：激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS），實(shí)現(xiàn)了可模塊化、快速、簡(jiǎn)便的使用操作,具有快速測(cè)定元素組成、高分辨率的二維化學(xué)成像及表面不均一的可視化、可進(jìn)行層狀材料的深度分析等特點(diǎn)

AtomTrace 激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀產(chǎn)品信息

Atom Trace的Sci-Trace多元素化學(xué)分析系統(tǒng)利用當(dāng)今前景的分析技術(shù)之一：激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS），實(shí)現(xiàn)了可模塊化、快速、簡(jiǎn)便的使用操作,具有快速測(cè)定元素組成、高分辨率的二維化學(xué)成像及表面不均一的可視化、可進(jìn)行層狀材料的深度分析等特點(diǎn)。

AtomTrace LIBS中文樣冊(cè)-產(chǎn)品.png

◆高精度電動(dòng)載物臺(tái)

• 3軸電動(dòng)驅(qū)動(dòng)

• 高真空環(huán)境

• 直接裝在滑門上

各式各樣的樣品架可以放置不同形狀和尺寸的樣品，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)檢測(cè)樣品架型號(hào)，并在控制軟件的“樣品預(yù)覽”窗口中顯示.

樣品架.png

◆樣品室

Sci-Trace有3種樣品室：

AtomTrace LIBS--樣品室.png

◆自定義您的實(shí)驗(yàn)

• 總共多達(dá)15個(gè)腔室輸入端口

• 11個(gè)瞄準(zhǔn)共同中心點(diǎn)

• 3種側(cè)板

• 1個(gè)大的觀察口（可過(guò)濾1064和532 nm波長(zhǎng)）

安裝更多激光器可以實(shí)現(xiàn)雙脈沖/多脈沖LIBS ，來(lái)提高檢出限或者成像的分辨率；

安裝第二個(gè)光譜儀同時(shí)分析不同的等離子體或捕獲更多不同分辨率的光譜區(qū)域；

安裝一些附加模塊氣體模塊、相機(jī)模塊等；

安裝自己設(shè)計(jì)的模塊。

自定義你的實(shí)驗(yàn).png

◆附加模塊-MPI基本輸入模塊

MPI是Sci-Trace的核心模塊，它可以將激光聚焦到樣品表面，并提供軟件上的樣品視圖功能，通常安裝在樣品室的頂部。

◆附加模塊-MPR壓力調(diào)節(jié)模塊

MPR可以快速調(diào)節(jié)樣品室內(nèi)的壓力，低壓和/或惰性氣體環(huán)境下，LIBS分析的信噪比會(huì)顯著提高，從而可以提高檢測(cè)限。MPR的主要組件隱藏在MPR架中，通過(guò)帶有電磁閥和過(guò)濾器的壓力軟管與真空樣品室和IO面板相連。

• 壓力范圍: 1-1300 mbar(a)

• 可以直接連接氣瓶

• 精確的自動(dòng)壓力調(diào)節(jié)

• 內(nèi)部壓力的外部指示器

• 排氣閥、安全閥、油/塵/污染物過(guò)濾器

◆附加模塊-輻射光譜收集模塊

MRC是有效收集等離子體輻射的光機(jī)系統(tǒng)

• UVFS/CaF₂ 可調(diào)多透鏡系統(tǒng)

• 光譜范圍 200-1000 nm

• SMA光纖輸出

• 安裝在一個(gè)端口上

◆附加模塊-MSC 輔助相機(jī)模塊

MSC是一個(gè)多功能相機(jī)模塊，可以在控制軟件中顯示實(shí)時(shí)圖像。

• 可變焦CMOS相機(jī)

• 外部觸發(fā)

• 適用于等離子成像或LIBS調(diào)節(jié)

• 安裝在一個(gè)端口上

不同壓力下等離子體的不同形狀

不同壓力的成像.png

◆氣體模塊

MGE-抽氣模塊

• 主動(dòng)提取剝蝕下來(lái)的材料

• 過(guò)濾輸出

•安裝在一個(gè)端口上

MGP-氣體吹掃模塊

• 樣品表面清洗

• 創(chuàng)造局部惰性氣體環(huán)境

• 連續(xù)或觸發(fā)模式

•安裝在一個(gè)端口上

◆儀器托架

儀器托架承載著所有必要的LIBS部件和控制電子設(shè)備，并分為兩個(gè)隔間：儀器室和機(jī)架室。

儀器托架.png

◆控制軟件-Sci-Trace控制系統(tǒng)

Sci-Trace系統(tǒng)的控制軟件能夠控制樣品室和連接模塊的所有功能。

◆光譜處理軟件-AtomAnalyzer

AtomAnalyzer是LIBS的光譜處理軟件帶有*的功能結(jié)點(diǎn)庫(kù)設(shè)計(jì)將它們放在圖形化的工作區(qū)中，并將它們相互鏈接，以更直觀的方式來(lái)創(chuàng)建光譜處理流程。這種創(chuàng)新方法使標(biāo)準(zhǔn)且復(fù)雜的過(guò)程變得更快，更容易和更透明。