一.優(yōu)質(zhì)供應(yīng)全反射X射線熒光光譜儀介紹
全反射X熒光(TXRF)分析技術(shù)是近年來(lái)才發(fā)展起來(lái)的多元素同時(shí)分析技術(shù)。TXRF利用全反射技術(shù),使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀(EXRF)本底降低約四個(gè)量級(jí),從而大大提高了能量分辨率和靈敏度,避免了XRF測(cè)量中通常遇到的本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng);同時(shí)TXRF技術(shù)又繼承了EXRF方法的*性,成為一種不可替代的全新的元素分析方法。該技術(shù)被譽(yù)為在分析領(lǐng)域是有競(jìng)爭(zhēng)力的分析手段、在原子譜儀領(lǐng)域內(nèi)處于地位。
在X熒光譜儀范圍內(nèi),與波長(zhǎng)色散譜儀(RF)方法比較,由于TXRF分析技術(shù)用樣量很少,也不需要制作樣品的煩瑣過(guò)程,又沒有本底增強(qiáng)或減弱效應(yīng),不需要每次對(duì)不同的基體做不同的基體校準(zhǔn)曲線。另外由于使用內(nèi)標(biāo)法,對(duì)環(huán)境溫度等要求很低。因而在簡(jiǎn)便性、經(jīng)濟(jì)性、用樣量少等方面,都比RF方法有明顯的*性。
TXRF技術(shù)可以對(duì)從氧到鈾的所有元素進(jìn)行分析,一次可以對(duì)近30種元素進(jìn)行同時(shí)分析,這是原子吸收譜儀中的ETAAS和FAAS方法難以做到的。與質(zhì)譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析(NAA)等方法相比較,TXRF分析方法在快速、簡(jiǎn)便、經(jīng)濟(jì)、多元素同時(shí)分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優(yōu)勢(shì)。
TXRF元素分析儀在元素分析領(lǐng)域內(nèi)的應(yīng)用現(xiàn)狀和發(fā)展前景都是令人鼓舞的。它可以廣泛應(yīng)用于地礦、冶金、化工、食品、生物、醫(yī)藥、環(huán)保、法檢、考古、高純材料等等各領(lǐng)域內(nèi)的常量、微量、痕量元素分析測(cè)定。特別在半導(dǎo)體工業(yè)中的硅片表面質(zhì)量控制方面,有著不可替代的優(yōu)勢(shì),目前已在上得到廣泛應(yīng)用。
二.優(yōu)質(zhì)供應(yīng)全反射X射線熒光光譜儀應(yīng)用
1.地礦:金礦、銅精料和鎳精料、螢石、長(zhǎng)石、氧化銻 ;
2.冶金:鎳電解液、銅陽(yáng)極泥、高冰鎳中的貴金屬、光譜Rh、金銀首飾、鑄鐵、軸承 ;
3.化工:柴油中的硫含量,各種催化劑,陶瓷釉藥;
4. 環(huán)境保護(hù) :自來(lái)水、大氣飄塵、污水污泥;
5.生物:海洋動(dòng)物牙齒和體液 ;
6.醫(yī)藥:頭發(fā)和指甲中的有益有害元素,丹參中有害微量元素 ;
7.食品:飲料中有益和有害元素 ;
8.刑偵法醫(yī):撞車現(xiàn)場(chǎng)樣品鑒定 。
三.主要特點(diǎn)
■ 單內(nèi)標(biāo)校正,有效簡(jiǎn)化了定量分析,無(wú)基體影響;
■ 對(duì)于任何基體的樣品可單獨(dú)進(jìn)行校準(zhǔn)和定量分析;
■ 多元素實(shí)時(shí)分析,可進(jìn)行痕量和超痕量分析;
■ 不受樣品的類型和不同應(yīng)用需求影響;
■ *的液體或固體樣品的微量分析,分析所需樣品量小;
■ 優(yōu)良的檢出限水平,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚;
■ 的動(dòng)態(tài)線性范圍;
■ 無(wú)需任何化學(xué)前處理,無(wú)記憶效應(yīng);
■ 非破壞性分析,運(yùn)行成本低廉。
四.應(yīng)用范圍
1、多元素同時(shí)分析:一次可分析近30種元素;
2、檢出限低:zui低檢出限:pg級(jí)(10-12);zui低相對(duì)檢出限:ng/mL級(jí)(10-9);
3、測(cè)量元素范圍廣:可以從11號(hào)元素Na到92號(hào)元素U;
樣品用量少, μL、μg級(jí);
4、粉末樣品、懸浮液樣品、有平面的固體都可直接進(jìn)行分析,zui低檢出限達(dá)到ng/g量級(jí)。
5、可以進(jìn)行無(wú)損分析,也可進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣分析;
6、測(cè)量時(shí)間短:一般在10秒-1000秒;
7、輸入功率:小于500W;
8、自動(dòng)化程度高,操作方便。