45MG超聲波測厚儀: |
45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的上等超聲測厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的**型儀器,可用于幾乎所有測厚應用。
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使用雙晶探頭對腐蝕工件進行測量
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使用單晶探頭對工件進行**測量
45MG超聲波測厚儀標準功能45MG儀器在使用基本配置時,是一款易懂易學、操作簡便的測厚儀,操作人員經(jīng)過*基本的培訓,就可完成*常用的測厚應用。不過,45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后,就會變成一款極為上等的測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應用。此外,大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買。
| 45MG超聲波測厚儀可選功能只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能**測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業(yè)領域中用途*廣泛的測厚儀行列。
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45MG超聲波測厚儀抵御惡劣環(huán)境的能力
| 室內(nèi)顯示設置,可選A掃描模式 |
45MG超聲波測厚儀簡便操作的設計理念
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45MG超聲波測厚儀的技術規(guī)格
測量 | |
雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的**延遲到**個回波之間的時間間隔。 |
自動回波到回波(可選) | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。 |
穿透涂層測量 (可選) | 利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭) |
單晶探頭測量模式(可選) | 模式1:激勵脈沖與**個底面回波之間的時間間隔。 模式2:延遲塊回波與**個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 模式3:在激勵脈沖之后,位于**個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。 |
厚度范圍 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量*全的范圍需要使用單晶選項) |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可選擇) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸) |
探頭頻率范圍 | 標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |
一般規(guī)格 | |
操作溫度范圍 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋 |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應 |
電池工作時間 | 3節(jié)AA堿性電池:20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時 |
標準 | 設計符合EN15317標準 |
顯示 | |
彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波(波形選項) |
輸入/輸出 | |
USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | *大容量:2 GB可插拔MicroSD存儲卡 |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選) | |
數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識別、存儲、調(diào)用、**及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形 |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼 |
文件結構 | 6個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構 |
報告 | 機載報告總結了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和*小值/*大值 |
45MG超聲波測厚儀標準配置
- 45MG數(shù)字式超聲測厚儀
- AA堿性電池
- 2階試塊和耦合劑
- USB線纜
- 用戶手冊,存于CD盤上
- 測量功能:*小值/*大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
45MG超聲波測厚儀軟件選項
- 45MG-SE (U8147022):單晶選項,使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭
- 45MG-HP (U8147023):單晶高穿透選項,使用頻率范圍為0.5 MHz~30 MHz的單晶探頭
- 45MG-EETC (U8147021):回波到回波和穿透涂層
- 45MG-WF (U8147019):波形選項
- 45MG-DL (U8147020):內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器,包含GageView接口程序
45MG超聲波測厚儀選購附件
- MICROSSD-ADP-2GB (U8779307): 2 GB外置MicroSD存儲卡
- 45MG-RPC (U8779676): 帶支架的橡膠保護套
45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業(yè)領域中用途*廣泛的測厚儀行列。
- 回波到回波/穿透涂層
- 單晶
- 單晶高穿透
- 數(shù)據(jù)記錄器
- 帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描
45MG超聲波測厚儀回波到回波/穿透涂層選項
回波到回波
測厚儀使用多個底面回波,顯示不計涂層厚度的實際金屬厚度:
- 自動回波到回波
- 手動回波到回波(僅出現(xiàn)于A掃描選項),可進行以下操作:
- 增益調(diào)整
- 擴展空白
- 回波空白
穿透涂層技術
使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要得到金屬的厚度,無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。 |
顯示A掃描的自動回波到回波模式 | 顯示涂層厚度和鋼材料厚度的穿透涂層模式(波形選項未被激活) |
調(diào)整**個回波空白的手動回波到回波模式 | 顯示可選波形的穿透涂層模式 |
單晶軟件選項用戶使用單晶軟件選項,可以完成分辨率高達0.001毫米或0.0001英寸的極為**的厚度測量??膳c范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
| 單晶高穿透軟件選項用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。這個選項包含單晶選項。
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45MG超聲波測厚儀可選數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口
45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項包含GageView接口程序。 數(shù)據(jù)記錄器選項
在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。
可以方便地生成并打印包含測量值、ID編碼及其它參數(shù)的測量報告。
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機載DB柵格視圖,使用3種可編輯的顏色
GageView 接口程序
在PC機上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標明超出容差的厚度情況。
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帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描
用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數(shù),對增益和空白設置進行手動調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應用中*大限度地增強測量性能。這個極為有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、靠前回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
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雙晶探頭,用于腐蝕測厚操作
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單晶探頭,用于**厚度測量
雙晶探頭,用于腐蝕測厚操作
所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。
探頭 | 工件編號 | 頻率(MHz) | 連接器 | 端部直徑mm(in.) | 范圍(鋼)*mm(in.) | 溫度范圍** °C (°F) | 線纜 | 工件編號 |
D790 | U8450002 |
| 平直 |
11.00 |
1.00 to 500.00 |
| 密封 | ¯ |
D790-SM | U8450009 | 平直 | LCMD-316-5B† | U8800353 | ||||
D790-RL | U8450007 | 90° | LCLD-316-5G† | U8800330 | ||||
D790-SL | U8450008 | 平直 | LCLD-316-5H | U8800331 | ||||
D791 | U8450010 | 5.0 | 90° | 11.00 (0.434) | 1.00~500.00 (0.040~20.000) | -20~500 (-5~932) | 密封 | ¯ |
D791-RM | U8450011 | 5.0 | 90° | 11.00 (0.434) | 1.00~500.00 (0.040~20.000) | -20~400 (-5~752) | LCMD-316-5C | U8800345 |
D792 | U8450012 | 10 | 平直 | 7.20 (0.283) | 0.50~25.00 (0.020 to 1.000) | 0~50 (32~122) | 密封 | ¯ |
D793 | U8450013 | 90° | 密封 | ¯ | ||||
D794 | U8450014 | 5.0 | 平直 | 7.20 (0.283) | 0.75~50.00 (0.030~2.000) | 0~50 (32~122) | 密封 | ¯ |
D797 | U8450016 | 2.0 | 90° | 22.90 (0.900) | 3.80~635.00 (0.150~25.000) | -20~400 (-5~752) | 密封 | ¯ |
D797-SM | U8450017 | 平直 | LCMD-316-5D | U8800355 | ||||
D7226 | U8454013 | 7.5 | 90° | 8.90 (0.350) | 0.71~100.00 (0.028~4.000) | -20~150 (-5~300) | 密封 | ¯ |
D798-LF | U8450019 | |||||||
D798 | U8450018 | 7.5 | 90° | 7.20 (0.283) | 0.71~100.00 (0.028~4.000) | -20~150 (-5~300) | 密封 | ¯ |
D798-SM | U8450020 | 平直 | LCMD-316-5J | U8800357 | ||||
D799 | U8450021 | 5.0 | 90° | 11.00 (0.434) | 1.00~500.00 (0.040~20.000) | -20~150 (-5~300) | 密封 | ¯ |
MTD705 | U8620225 | 5.0 | 90° | 5.10 (0.200) | 1.00~19.00 (0.040~0.750) | 0~50 (32~122) | LCPD-78-5 | U8800332 |
D7906-SM†† | U8450005 | 5.0 | 平直 | 11.00 (0.434) | 1.00~50.00 (0.040~2.000) | 0~50 (32~122) | LCMD-316-5L | U8800358 |
D7906-RM†† | U8450025 | 90° | LCMD-316-5N | U8800647 | ||||
D7908 | U8450006 | 7.5 | 90° | 7.20 (0.283) | 1.00~37.00 (0.040~1.500) | 0~50 (32~122) | 密封 | ¯ |
*厚度范圍取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。 | †可提供不銹鋼線纜;欲查詢詳情,請與Olympus NDT聯(lián)系。 |
***高溫度下,僅使用間歇接觸。 | ††使用穿透涂層技術的探頭。 |
單晶探頭,用于厚度測量
接觸式探頭
頻率 | 晶片直徑 | 探頭 | 工件編號 | |
mm | in. | |||
0.5 | 25 | 1.00 | M101-SB* | U8400017 |
1.0 | 25 | 1.00 | M102-SB* | U8400018 |
1.0 | 13 | 0.5 | M103-SB* | U8400020 |
2.25 | 13 | 0.5 | M106-RM | U8400023 |
M106-SM | U8400025 | |||
2.25 | 13 | 0.5 | M1036 | U8400020 |
5.0 | 13 | 0.5 | M109-RM | U8400027 |
M109-SM | U8400028 | |||
5.0 | 6 | 0.25 | M110-RM | U8400030 |
M110-SM M110H-RM** | U8400031 U8400029 | |||
10 | 6 | 0.25 | M112-RM M112-SM | U8400034 U8400035 U8400033 |
M112H-RM** | U8400033 | |||
10 | 3 | 0.125 | M1016 | U8400015 |
20 | 3 | 0.125 | M116-RM | U8400038 |
M116-SM | U8400039 | |||
20 | 3 | 0.125 | M116H-RM** | U8400037 |
這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
需使用彈簧加載支架。
Sonopen 探頭
Sonopen探頭的延遲塊可以更換,其端部為錐形,可接觸到極其狹窄的區(qū)域。這種探頭可以在測量渦輪葉片厚度及塑料容器的內(nèi)圓角的厚度等應用中提供可靠的厚度讀數(shù)。
Sonopen - 15 MHz,3 mm(0.125 in.)探頭
平直手柄 | 直角手柄 | 45°手柄 | |||
工件 | 工件 編號 | 工件 | 工件 編號 | 工件 | 工件 編號 |
V260-SM | U8411019 | V260-RM | U8411018 | V260-45 | U8411017 |
Sonopen - 可替換的延遲塊
**直徑 | 工件 | 工件 編號 | |
mm | in. | ||
2.0 | 0.080 | DLP-3 | U8770086 |
1.5 | 0.060 | DLP-302 | U8770088 |
2.0 | 0.080 | DLP-301† | U8770087 |
†高溫延遲,可用于高達175°C的溫度。
水浸探頭
Panametrics Microscan水浸探頭的設計目的是在水中傳播并接收超聲波。當被測樣件的幾何形狀較為復雜或進行在線檢測時,通過水浸技術獲得的厚度讀數(shù)通常更為可靠。典型的離線應用包含對小直徑塑料或金屬管件的壁厚測量,掃查或旋轉(zhuǎn)測量,以及對大幅彎曲的樣件進行的厚度測量。在某些應用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區(qū)域。
頻率 (MHz) | 晶片直徑 | 探頭 |
| |
mm | in. | |||
2.25 | 13 | 0.50 | M306-SU | U8410027 |
5.0 | 13 | 0.50 | M309-SU | U8420001 |
5.0 | 6 | 0.25 | M310-SU | U8420004 |
10 | 6 | 0.25 | M312-SU | U8420008 |
15 | 6 | 0.25 | M313-SU | U8420009 |
20 | 3 | 0.125 | M316-SU | U8420011 |
RBS-1水浸箱
RBS-1水浸箱的設計目的是簡化利用水浸技術的超聲測厚操作。
延遲塊探頭
Microscan延遲塊探頭可在測量極薄材料,溫度*,或要求*厚度分辨率的應用中,發(fā)揮優(yōu)良的測量性能。
頻率 (MHz) | 晶片 直徑 | 探頭 |
| 支架 | 工件 編號 | |
mm | in. | |||||
0.5 | 25 | 1.00 | M2008* | U8415001 | - | - |
2.25 | 13 | 0.50 | M207-RB | U8410017 | - | - |
5.0 | 13 | 0.50 | M206-RB | U8410016 | - | - |
5.0 | 6 | 0.25 | M201-RM | U8410001 | - | - |
5.0 | 6 | 0.25 | M201H-RM | U8411030 | 2127 | U8770408 |
10 | 6 | 0.25 | M202-RM | U8410003 | - | - |
M202-SM | U8410004 | |||||
10 | 6 | 0.25 | M202H-RM | U8507023 | 2127 | U8770408 |
10 |
| 0.125 | M203-RM | U8410006 | - | - |
M203-SM | U8410007 | |||||
20 | 3 | 0.125 | M208-RM | U8410019 | - | - |
M208-SM | U8410020 | |||||
20 | 3 | 0.125 | M208H-RM | U8410018 | 2133 | U8770412 |
20 | 3 | 0.125 | M2055** | U8415013 | - | - |
30 | 6 | 0.25 | V213-BC-RM** | U8411022 | - | - |
*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
**這些探頭中的延遲塊不能替換。
可替換的延遲塊
延遲塊的作用是在被測樣件表面與探頭晶片之間充當保護性緩沖器。
晶片 直徑 | 延遲塊 | *大厚度 測量極限* | |||||||
mm | in. | 工件 | 工件 編號 | 鋼- 模式2 | 鋼- 模式3 | 塑料- 模式2 | |||
mm | in. | mm | in. | mm | in. | ||||
13 | 0.50 | DLH-2 | U8770062 | 25 | 1.0 | 13 | 0.5 | 13 | 0.5 |
6 | 0.25 | DLH-1 | U8770054 | 25 | 1.0 | 13 | 0.5 | 13 | 0.50 |
3 | 0.125 | DLH-3 | U8770069 | 13 | 0.5 | 5 | 0.2 | 5 | 0.2 |
附加產(chǎn)品
耦合劑
為得到探頭與被測樣件之間的聲學耦合,幾乎總會需要液體耦合劑。我們所提供的各種耦合劑幾乎可以適用于所有應用。
校準試塊
試塊是校準超聲測厚儀的必要工具,為保持、核查超聲測量的**性、獨立性及可靠性,一定要使用校準試塊。試塊所使用的公差標準較ASTM E797規(guī)范中表述的公差更為嚴格。我們備有公制單位的試塊。
探頭線纜
我們提供適用于所有超聲測厚儀器的各種探頭線纜。
- 標準型
- 防水型
- 耐用型
- 特氟綸(Teflon)
- 帶PVC外殼
- 帶硅樹脂外殼
- 不銹鋼