蔡司LSM 900激光掃描共聚焦顯微鏡(CLSM)是一臺(tái)用于材料分析的儀器，可在實(shí)驗(yàn)室或多用戶設(shè)施中表征三維微觀結(jié)構(gòu)和表面形貌。LSM 900可對納米材料、金屬、聚合物和半導(dǎo)體進(jìn)行精確的三維成像和分析。將蔡司Axio Imager.Z2m正置式全自動(dòng)光學(xué)顯微鏡或蔡司Axio Observer 7倒置式顯微鏡裝上LSM 900共聚焦掃描頭，同時(shí)具有所有的光學(xué)顯微鏡觀察模式，以及高精度的共聚焦表面三維成像模式，您可輕松將所有功能集于一身。這些功能的使用無需切換顯微鏡，您將可以進(jìn)行原位觀察，節(jié)省大量的時(shí)間。自動(dòng)化也會(huì)給您的數(shù)據(jù)采集和后期處理帶來諸多便利。另外，LSM 900具有非接觸式共聚焦成像的優(yōu)勢，例如表面粗糙度的評估。
優(yōu)勢
結(jié)合光學(xué)顯微和共聚焦成像
LSM共聚焦平臺(tái)LSM 900專為2D和3D的嚴(yán)苛材料應(yīng)用而開發(fā)。
您可以用非接觸式共聚焦成像來表征樣品的形貌特征和評估表面粗糙度
以無損方式確定涂層和薄膜的厚度
您可以運(yùn)用各種成像方式，包括在光學(xué)觀察方式或共聚焦模式下的偏光與熒光顯微成像
在反射光下表征金相樣品，在透射光下表征巖石或聚合物薄片樣品。
高效樣品研究
無需切換顯微鏡，即可使用多種方式對新材料和結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像與分析，減少儀器設(shè)置時(shí)間，提高獲得結(jié)果的效率。
在樣品的多個(gè)位置使用自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集優(yōu)化您的流程。
可以在概況圖像上靈活定義您感興趣的區(qū)域，只采集您需要的區(qū)域。
高達(dá)6,144 × 6,144像素的掃描范圍使您可以靈活定義掃描區(qū)域的大小甚至方向
