便攜式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/電阻率檢測(cè)儀 型號(hào):DP-TS-2
測(cè)量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
體積僅為:125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深)
DP-TS-2/TS-2A型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了電子進(jìn)行、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。
本儀器廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測(cè)試,半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo) : | ||||||||||||||||||||||||
便攜式四探針測(cè)試儀按測(cè)量范圍可選配DP-TS-2型或DP-TS-2A型,區(qū)別:測(cè)量范圍不一樣。 | ||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||
|