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Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱廈門淳涵科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/7/12 13:32:59
  • 訪問次數(shù)1333
產(chǎn)品標(biāo)簽:

Zeta電位分析儀

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廈門淳涵科技有限公司,多年來一直致力于設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測和故障診斷事業(yè),已成為行業(yè)內(nèi)的企業(yè)。公司具備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和培訓(xùn)的綜合能力。在長期發(fā)展中,公司形成了完整的產(chǎn)品系列,不僅有機械類檢測儀器,還有電氣類檢測儀器;不僅有離線巡檢儀器,還有在線監(jiān)控系統(tǒng)。公司追蹤的技術(shù)和設(shè)備管理維修理念,致力于為客戶提供*的產(chǎn)品,幫助客戶建立*的全廠設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng),提高設(shè)備資產(chǎn)的正常使用率,降低生產(chǎn)成本。公司奉行“真正的友誼體現(xiàn)在買賣之后”的服務(wù)理念,長期堅持以客戶為中心的服務(wù)原則,開通了24小時服務(wù)電話及在線交流等方式,及時回復(fù)客戶提出的問題。
化學(xué)吸附儀
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15?、90?與173?三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量,是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀 產(chǎn)品信息
產(chǎn)品詳情簡介
產(chǎn)品簡介:
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量,是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。

詳細(xì)說明:
作為將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)進行了結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,實現(xiàn)在同一臺粒度分析儀中,既可以同時兼顧大、小顆粒的散射光信號,又可以有效地提高了測量濃度上限,可達40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進行測量)的樣品進行分析的難題。Omni是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。

NanoBrook產(chǎn)品系列
 
項目 173 173Plus Omni ZetaPALS  

粒度測量功能  
分子量測量功能  
Zeta電位測量功能  


 術(shù)

 參

 數(shù)
散射角 15°與173° 15°、90°與173°  
粒度范圍 0.3nm-10μm  
分子量測定范圍 342~2×107Dalton  
相關(guān)器 4×522個物理通道,4×1011個線性通道  
Zeta電位適用粒度范圍 1nm~100μm  
Zeta電位范圍 -500mV~500mV  
電導(dǎo)率范圍 0-30S/m  
電泳遷移率范圍 10-11~10-7m2/V.s  
電極 開放式型電極  

統(tǒng)

數(shù)
溫控范圍與精度 -5~110℃,±0.1℃  
激光源 35mW光泵半導(dǎo)體激光器  
檢測器 PMT或APD  
分析軟件 Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件  
大小及重量 233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg  

BI-ZTU自動滴定儀 可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖  
BI-870介電常數(shù)儀 直接測量溶劑的介電常數(shù)值  
  BI-SV10粘度計 用于測量溶劑及溶液的粘度
 
 
代表“有”  ○代表“無”
 
 
 
 
 
典型應(yīng)用  
IMG_2561.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體
3.多糖、藥物制備
4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液
5.油包水、水包油體系
6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑
7.食品、化妝品配方
8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑
 
應(yīng)用案例
IMG_257
    不同粒徑對Zeta電位等電點的影響                        不同官能團配比對等電點的影響                     Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系
    通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團和顆粒的靜電荷對動物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)
 
技術(shù)參數(shù)
1.粒度測量范圍:0.3nm~10μm
2.Zeta電位測量適用粒度范圍:1nm~100μm
3.樣品濃度范圍:0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))
4.典型精度:1%
5.樣品類型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品
6.樣品體積:1~3ml
7.分子量測定范圍:342~2×107Dalton
8.Zeta電位范圍:-500mV~500mV
9.電導(dǎo)率范圍:0~30S/m
10.電泳遷移率范圍:10-11 ~ 10-7 m2 /V.s
11.電場強度:0 ~ 60 kV/m
12.電極:性開放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)
13.溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。
14.pH測量范圍:1-14
15.激光源:35mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)
16.檢測器:高靈敏雪崩型二極管(APD)
17.相關(guān)器:4×522個物理通道,4×1011個線性通道,采用動態(tài)采樣時間及動態(tài)延遲時間分配
18.自動趨勢分析:對時間、溫度及其他參數(shù)
19.散射角:15°、90°與173°
20.室溫操作情況:10°C ~ 75°C,濕度 0% ~95%, 無冷凝
21.大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg
22.電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W
23.計算機(選件):商用計算機,包括WindowTM軟件
24.自動滴定儀(選件):獨立四泵驅(qū)動,可對pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
關(guān)鍵詞:滴定儀 粘度計
15168338725
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