產(chǎn)品類型：能量色散X熒光光譜分析儀
產(chǎn)品名稱：鍍層測厚儀
產(chǎn)品型號：XTU-A
產(chǎn)品優(yōu)勢：
XTU-A是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，C型開槽設(shè)計樣品腔，讓其滿足了既可測量超微小樣品的檢測，同時還可滿足超過樣品腔尺寸的大工件測量。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。
1）搭載微聚焦加強型X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，最小測量面積達0.03mm2
2）擁有無損變焦檢測技術(shù)，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配備高精密微型移動滑軌，可實現(xiàn)多點位、多樣品的精準位移和同時檢測
5）裝配高效率正比接收器，即便測量0.03mm2以下的樣品，幾秒鐘也可達到穩(wěn)定性
6）可同時分析23個鍍層，24種元素，測量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：氯Cl（17）/鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層檢出限：0.005μm
7）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
8）標(biāo)配為2個準直器任意選擇一種，最小測量面積可達0.03mm2
9）配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴散度小于10%
儀器配置：
1. 微聚焦X射線管：高穩(wěn)定性X射線發(fā)生器
—鈹窗口，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽
—50kV，1mA，高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供更好的性能
—符合DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568射線標(biāo)準，如有特殊要求，也可
協(xié)商定制
2. 接收器：高效率正比計數(shù)管
—窗口面積≥150mm2
3. 光路轉(zhuǎn)換器
—φ0.5mm，φ0.2mm，兩個準直器任意選擇一種
4. 定制專享高敏感鏡頭
—1/2.7”彩冊CCD高敏感可變焦鏡頭，全局快門，有效像素：1280*960，光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍
5. 恒壓恒流快門式光閘
—擁有高壓電源緊急自鎖功能，帶給您更安全的防護
6. 移動平臺
—無（可選配）
7. 全新一代高壓電源
—性能穩(wěn)定可靠，高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
8. 對流通風(fēng)式過濾風(fēng)冷
—*的散熱系統(tǒng)配備，儀器即便全天候開啟，都可保持恒溫恒效
9. 隨附標(biāo)準片
—免費提供十二元素片、五選二標(biāo)準片（ Ni/Cu 2um、Ni/Fe 5um、Au/XX 0.05um、Ag/XX 0.5um、Cr/XX 0.15um）、其他規(guī)格（選配）
10. 其他配置
—電腦一套、打印機、附件箱、電鍍液測量杯（選配）
技術(shù)參數(shù)：
1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）
2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）
3. 厚度檢出限：0.005μm
4. 成分檢出限：1ppm
5. 最小測量直徑0.2mm（最小測量面積0.03mm2）
6. 對焦距離：0-30mm
7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm
9. 儀器重量：45KG
10. 多元迭代EFP核心算法（號：2017SR567637）
專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe，通過EFP算法，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素，也可精準測量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。
儀器參數(shù)：
