石墨烯和2D材料表征
Onyx是市場上設(shè)計(jì)用于提供石墨烯、薄膜和其他2D材料的全區(qū)域非破壞性表征的系統(tǒng)。
Onyx彌補(bǔ)宏觀工具和納米工具之間的空白,可以檢測從0.5 mm2到大面積(m2)的特征,從而增強(qiáng)研究材料的工業(yè)化水平。與其他大面積測試方法(例如四探針方法)相比,Onyx能夠測量樣品質(zhì)量的空間分布。與顯微方法(例如拉曼,SEM和TEM)不同,可以數(shù)百微米的空間分辨率快速表征大面積的樣品。
移動(dòng)性和載流子密度
Onyx不斷改進(jìn)其功能,以提供新結(jié)果,從而極大地提高其潛力。Onyx將移動(dòng)性和載流子密度分析合并到其先前的功能中。僅在一次測量中,該系統(tǒng)即可精確提供物理屬性。