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工作原理
納米粒度測(cè)量部分使用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動(dòng)，使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動(dòng)。采用數(shù)字相關(guān)器（digital correlator）
技術(shù)處理脈沖信號(hào)，將光強(qiáng)的波動(dòng)轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù)。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U(kuò)散速度信息，進(jìn)而利用Stokes－Einstein方程計(jì)算得出粒子的擴(kuò)散系數(shù)和粒子粒徑Rh及其分布：
ZetaPlus電位測(cè)量采用電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場(chǎng)作用下進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，電荷運(yùn)動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計(jì)算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)-納米粒度測(cè)量部分：
1. 強(qiáng)大的TurboCorr數(shù)字相關(guān)器：的相關(guān)器，擁有522個(gè)物理通道，相當(dāng)于超過(guò)1010個(gè)線性通道，25nS-1310S動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及延遲時(shí)間分配，支持互相關(guān)測(cè)量，支持多路信號(hào)輸入（詳見相關(guān)資料）。
2. 采用35mW大功率固體激光器，在保證穩(wěn)定性的同時(shí)有效地提高了信噪比，更加有利于對(duì)極小粒度及極稀體系的測(cè)量(如圖1)。由于光束的良好聚焦，不會(huì)對(duì)體被測(cè)體系造成熱運(yùn)動(dòng)影響，同時(shí)保證了更小的散射體積。
3. 高線性范圍的PMT檢測(cè)器和高靈敏的APD檢測(cè)器根據(jù)客戶實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求選則。APD以其高靈敏度適用于納米顆粒的測(cè)量；PMT檢測(cè)器以其良好的線性范圍適合測(cè)量分布較寬的樣品體系。
4. 樣品池溫度控制范圍: -5 to 110°C± 0.1°C
技術(shù)優(yōu)勢(shì)-Zeta電位測(cè)量部分：
1. *樣品槽設(shè)計(jì)：
傳統(tǒng)樣品槽電極設(shè)計(jì)，使樣品槽內(nèi)不可避免產(chǎn)生反電泳運(yùn)動(dòng)的電滲現(xiàn)象，所以測(cè)量必須在電滲運(yùn)動(dòng)為零的穩(wěn)定層上進(jìn)行。尋找穩(wěn)定層增加了儀器設(shè)計(jì)的復(fù)雜性，用戶校準(zhǔn)也很麻煩，精度也難以保證。布魯克海文公司開發(fā)的新型樣品槽為開放式，從根本上杜絕了電滲現(xiàn)象。測(cè)試精度有了充分保證，用戶也省去了校準(zhǔn)、標(biāo)定、及費(fèi)心保養(yǎng)等麻煩，亦無(wú)交叉污染之憂。
2. 的電極設(shè)計(jì)：
鑒于使用傳統(tǒng)毛細(xì)管電泳方法測(cè)量Zeta電位存在的種種缺陷，布魯克海文公司開發(fā)設(shè)計(jì)了一代的插入式電極。該電極使用純金或純鈀做為電極材料，因此電極壽命極長(zhǎng)；同時(shí)，由于采用了開放式的設(shè)計(jì)，電極的清洗變得簡(jiǎn)單易行；更重要的是，對(duì)于被測(cè)體系驅(qū)動(dòng)能力關(guān)鍵的是所加的電場(chǎng)強(qiáng)度（而不是電壓），由于這種電極的極板間距離相對(duì)更小，這樣就使得施加低電壓得到高場(chǎng)強(qiáng)成為可能，從而減小了測(cè)量過(guò)程中使用高電壓所產(chǎn)生的電流對(duì)膠體樣品的污染，
3. 內(nèi)置兩重精密的溫度控制單元，樣品溫度控制范圍: 5° C to 90° C（選項(xiàng)：-2°C to 102°C）。
4. 高線性范圍的PMT檢測(cè)器和高靈敏的APD檢測(cè)器根據(jù)客戶實(shí)際實(shí)驗(yàn)要求任選。
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90Plus 納米粒度分析儀
ZetaPlus Zeta電位分析儀
173Plus 多角度納米粒度分析儀
ZetaPALS 高靈敏度Zeta電位分析儀
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1. 高靈敏性，粒度測(cè)量范圍：0.3nm～10μm；
2. 插入式電極，耐腐蝕，可重復(fù)使用；
3. 可作為在線檢測(cè)器與GPC/SEC連接，并通過(guò)DLS、光強(qiáng)和粒徑監(jiān)測(cè)聚集過(guò)程；
4. 綜合的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測(cè)量軟件；
5. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度(蛋白熔點(diǎn))以及其他參數(shù)變化的趨勢(shì)分析.
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1. 脂質(zhì)體、生物膠體、醫(yī)藥
2. 陶瓷、膠乳、乳劑（食品、化妝品）
3. 顏料、油墨、炭黑
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90Plus Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀技術(shù)指標(biāo)：
項(xiàng)目
90Plus Zeta
功能
測(cè)量的參數(shù)
粒度、分子量、A2
Zeta電位、電泳遷移率
粒度及分子量
工作原理
經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射
粒度范圍
0.3nm-10μm
散射角
15°和90°
測(cè)量精度
1%
靈敏度
＞300 Kcps(甲苯)
濃度范圍
0.1ppm至40%w/v*
最小樣品量
10μL
分子量范圍
342～2×107Dalton
數(shù)字相關(guān)器
4×1011個(gè)線性通道，可拓展互相關(guān)測(cè)量
分析算法
NNLS、CONTIN、Lognormal、蛋白質(zhì)與聚合物分析模型
Zeta電
位
工作原理
電泳光散射原理
適用粒度范圍
1nm～100μm
Zeta電位范圍
－500mV～500mV
電導(dǎo)率范圍
0-20S/m
電泳遷移率范圍
10-10～10-7m2/V.s
樣品體檢
0.18-1.5mL
pH測(cè)量范圍
1-14
電極
耐腐蝕/有機(jī)溶劑電極
系 統(tǒng) 參 數(shù)
激光源
35mW光泵半導(dǎo)體激光器（根據(jù)用戶需求，提供激光器選擇）
檢測(cè)器
高量子效應(yīng)雪崩型二極管（APD），PDE＞70%
溫度控制
－5～110℃，±0.1℃
冷凝控制
干燥空氣
分析軟件
Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件
大小及重量
233mm (H) x 427 mm (W) x 481mm (D)，15 kg
*以樣品為準(zhǔn)
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項(xiàng)目
功能說(shuō)明
選件
微流變
檢測(cè)弱結(jié)構(gòu)溶液的粘彈性信息
表面膜電位
固體表面膜電位測(cè)量
實(shí)時(shí)在線測(cè)量
粒度及Zeta電位實(shí)時(shí)在線測(cè)量
自動(dòng)滴定儀
可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
介電常數(shù)儀
直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值
粘度計(jì)
用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度
21CFR軟件
符合FDA要求的21CFR part 11操作軟件和儀器材料
