【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
布魯克公司的新型 Dektak XTL ™探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多達(dá) 350 毫米 x350 毫米的樣品,將優(yōu)異的重復(fù)性應(yīng)用到大尺寸晶片及面板制造業(yè)。Dektak XTL 集成氣體隔震裝置和方便的交互鎖裝置使儀器在全封閉工作環(huán)境下運(yùn)行,可應(yīng)對(duì)復(fù)雜的生產(chǎn)環(huán)境。它的雙攝像頭設(shè)置和高水平自動(dòng)化功能可限度提高生產(chǎn)量。布魯克公司*的具有圖形識(shí)別功能的 Vision64® 軟件以及自動(dòng)化生產(chǎn)接口,可滿足 IC 級(jí)用戶需求,使數(shù)據(jù)采集成為一個(gè)自動(dòng)化的過(guò)程,限度地降低操作員的變化帶來(lái)的影響。
【主要應(yīng)用】
1、 主要用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和表面形貌的測(cè)量,實(shí)現(xiàn)納米尺度的表面輪廓測(cè)量;
2、 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、MEMS、金屬鍍層、油漆鍍層、玻璃鍍膜、太陽(yáng)能、LED、觸摸屏、醫(yī)療等領(lǐng)域。
【主要參數(shù)】
垂直量程 | 1mm |
垂直分辨率 | 0.1nm |
單次掃描長(zhǎng)度 | 55mm ( 300mm) |
樣品高度 | 50mm |
樣品臺(tái)尺寸 | 300mmX300mm (自動(dòng)) 350mmX350mm(自動(dòng)) |
樣品臺(tái)旋轉(zhuǎn) | 兩點(diǎn)定位 360 度連續(xù)旋轉(zhuǎn) |
臺(tái)階測(cè)試精度 | <4?( 1sigma on 1μm step) |
觀察系統(tǒng) | 雙鏡頭設(shè)置 |