產(chǎn)品型號：
FLA5800智能物聯(lián)型光纖光譜儀
智能物聯(lián)專用
智能物聯(lián)專用
產(chǎn)品介紹：
FLA5800智能物聯(lián)型光纖光譜儀底層硬件采用ARM架構(gòu)，大大加強數(shù)據(jù)處理能力，可色度、透過率、反射率算法移植到ARM芯片中，進一步提高分析速度。
FLA5800智能物聯(lián)型光纖光譜儀增加了特殊光學(xué)結(jié)構(gòu)，*消除由于光纖安裝所帶來的波長偏移問題，讓采集數(shù)據(jù)重復(fù)性更好，避免產(chǎn)線測試時因外界因素變化而引起的測試誤差。配置網(wǎng)口設(shè)計，讓光學(xué)數(shù)據(jù)及光譜圖像高速、多臺同步傳輸，上位機可以輕松監(jiān)測多產(chǎn)線工作狀況，實現(xiàn)一人多機，高效低成本。
技術(shù)規(guī)格：
參 數(shù) | 特 性 | 備 注 |
波長測試范圍 | 350nm～950nm | |
| 波長精度 | 0.4nm | |
| 探測器性能 | 濱松CCD | |
| 光學(xué)平臺 | CT-F/4-101 | |
| 色坐標(biāo)精度 | (x,y)< 0.002 | |
| 色坐標(biāo)穩(wěn)定性 | <0.0005 | |
| 波長測試精度 | <0.5nm | |
| 波長穩(wěn)定性 | <0.2nm | |
| 溫漂特性 | 色坐標(biāo)變化小于 0.001 ； 波長變化小于0.5nm | |
| 線性度 | 色坐標(biāo)變化小于 0.0003； 波長變化小于0.2nm | |
| 測試速度 | 積分時間+2ms | |
| 積分時間 （光譜曝光時間） | 0.4ms-500ms | |
| 靈敏度 | 400nm處 130個光子 | |
| 動態(tài)比 | 1000:1 | |
| 接口及供電 | USB 2.0/480M；USB供電 |
